產(chǎn)品介紹:

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200是3nh公司制造的*擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，能依據(jù)磁性法快速、準(zhǔn)確的無損檢測(cè)各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。

鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200測(cè)量準(zhǔn)確、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域，是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。

Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基金屬電鍍測(cè)厚儀YT8200特點(diǎn)

1、支持零點(diǎn)、單點(diǎn)、五點(diǎn)校正

支持多種校正方式，測(cè)試更便捷，可滿足更高測(cè)試精度需求

五點(diǎn)校正

2、IPS純彩屏，操作流暢，存儲(chǔ)容量大

IPS純彩屏

3、測(cè)量模式豐富

涂層測(cè)厚儀YT8200有基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式可供選擇，適應(yīng)更多測(cè)試場(chǎng)景

測(cè)量模式豐富

4、精確測(cè)量曲面平面

凸面半徑5mm；凹面半徑10mm

精確測(cè)量曲面平面

5、高靈敏探頭

自主研發(fā)高靈敏探頭反應(yīng)速度快，測(cè)試更加準(zhǔn)確

高靈敏探頭

6、支持藍(lán)牙，手機(jī)APP、微信小程序更多擴(kuò)展功能

可即時(shí)通過藍(lán)牙把測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)绞謾C(jī)，進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)據(jù)編輯和處理，輸出測(cè)試報(bào)告。

支持藍(lán)牙

經(jīng)濟(jì)型分體鐵基涂層測(cè)厚儀YT8200技術(shù)參數(shù)

涂層測(cè)厚儀測(cè)量影響因素：

a基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

d邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

e曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。

f試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。

g表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

g磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

h附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

i測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

j測(cè)頭的取向

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。