Fischerscope x-ray膜厚測試儀fischer

Fischerscope x-ray膜厚測試儀fischer

德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B膜厚測試儀介紹：
1、適用于Windows 2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
2、頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。
3、能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應(yīng)用的校準簡單化。
4、畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）
5、圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
6、對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)

Fischerscope x-ray的產(chǎn)品特點;

1、FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。
2、XDL-B 的特色是*的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強度的差別。對于XDL-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在復雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。特別針對微波腔體之類樣品的底部鍍層厚度進行測量。

菲希爾FMP系列測厚儀的配件：