菲希爾電導(dǎo)率測(cè)試儀Sigmascope SMP30

菲希爾電導(dǎo)率測(cè)試儀Sigmascope SMP30

Sigmascope SMP30的產(chǎn)品特性：
快速、無(wú)損地精確測(cè)量有色金屬的電導(dǎo)率，符合 DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 標(biāo)準(zhǔn)
適用于各種應(yīng)用的電導(dǎo)率探頭
根據(jù)探頭，針對(duì)不同滲透深度提供不同測(cè)量頻率（范圍為 15 kHz 至 1 MHz）
針對(duì)已知曲率直徑的自動(dòng)曲率補(bǔ)償（最小直徑低至 6 mm）
我們提供經(jīng)過(guò)認(rèn)證的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)（以 MS/m 計(jì)，%IACS），可追溯校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
Sigmascope SMP30的應(yīng)用：
針對(duì)原材料進(jìn)行電導(dǎo)率測(cè)試，以實(shí)現(xiàn)分揀與質(zhì)量保證
造幣中的合金元素檢查（例如歐元硬幣的電導(dǎo)率）
熱處理材料的硬度與強(qiáng)度評(píng)估
可因溫度波動(dòng)而改變的機(jī)身或類似組件的材料穩(wěn)定性控制
銅合金或含銅材料中的磷含量估算
沉淀工藝跟蹤，例如銅鉻合金
合金同質(zhì)性檢查
廢料分揀

X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái)，用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它特別適用于測(cè)量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)，是全自動(dòng)測(cè)量樣品的理想設(shè)備。
XDV-SDD設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。它配備了高精度、可編程運(yùn)行的X/Y軸工作臺(tái)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的Z軸升降臺(tái)。當(dāng)具有防護(hù)功能的測(cè)量門開(kāi)啟時(shí)，樣品臺(tái)能自動(dòng)移出到放置樣品的位置。通過(guò)激光點(diǎn)，可以快速對(duì)準(zhǔn)需要測(cè)量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了樣品放置的過(guò)程，并可對(duì)測(cè)量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。