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菲希爾X射線熒光分析儀XDL230 返回列表頁

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產(chǎn)品型號

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾

廠商性質代理商

所在地無錫市

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更新時間：2024-06-16 07:40:01瀏覽次數(shù)：468次

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產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	面議
應用領域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子

產(chǎn)地類別

進口

價格區(qū)間

面議

應用領域

環(huán)保,化工,石油,能源,電子

菲希爾X射線熒光分析儀XDL230

Fischerscope XDl230特點
    X射線熒光分析儀能量色散X射線熒光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B 568標準；
    X射線熒光分析儀XDLM的最小測量點： 0.1毫米; XDL的最小測量點：約 0.2毫米
    菲希爾測厚儀鎢X射線管或鎢微焦點管（XDLM）作為X射線源
    菲希爾測厚儀經(jīng)驗證可用于快速測量的比例接收器探測器
    固定或可更改的準直器
    固定或可自動切換基本濾片
    可選擇手動或可編程的XY載物臺；
    開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板
    通過攝像頭可輕松固定測量位置
    經(jīng)過認證的全面保護設備；
Fischerscope XDl230應用
    電鍍鋅鍍層，例如鐵上的鋅層作為防腐層；
    批量生產(chǎn)零件的系列測試
    特殊鋼成分的分析，例如檢測A4中的鉬含量
    裝飾性鍍鉻層，例如Cr/Ni/Cu/ABS
    測量印刷電路板上的功能性鍍層，例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB
    電子工業(yè)中連接器和觸點上的涂層，如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu