Fischerscope XDV-SDD費(fèi)希爾江蘇代理銷售

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Fischerscope XDV-SDD通用X射線熒光分析儀，用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細(xì)材料分析
費(fèi)希爾江蘇代理銷售使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD 50 mm2）
費(fèi)希爾江蘇代理銷售6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測量條件
分析輕元素，例如鋁，硅和磷
樣品高度高達(dá)14厘米
高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5 µm，用于小型結(jié)構(gòu)的自動測量；
結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，可進(jìn)行連續(xù)測試，具有的長期穩(wěn)定性
經(jīng)過認(rèn)證的全面防護(hù)裝置

菲希爾XDV-SDD是Fischer產(chǎn)品組合中功能大的X射線熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測器（SDD）。這使您能夠無損地測量的鍍層，例如引線框架上約2nm厚的金涂層。
同時，菲希爾XDV-SDD非常適合無損分析材料。例如，它對塑料中痕量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm，比RoHS或CPSIA要求的值低幾個數(shù)量級。
費(fèi)希爾江蘇代理銷售為了使您可以為每次測量創(chuàng)建理想的條件，XDV-SDD具有可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片，這樣就可以科學(xué)地進(jìn)行工作。此外，這種耐用的設(shè)備易于操作，而且是專為工業(yè)用途的系列測試而設(shè)計(jì)。自動擴(kuò)展的測量平臺和測量現(xiàn)場的實(shí)時圖像等功能使您的日常工作更加輕松。