金屬表面多鍍層厚度測(cè)量菲希爾測(cè)厚儀

金屬表面多鍍層厚度測(cè)量菲希爾測(cè)厚儀

表面多鍍層厚度測(cè)量原理

菲希爾測(cè)厚儀這個(gè)系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫(kù)侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實(shí)際上就是電鍍的反過程。菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀所載入的電流與要?jiǎng)冸x的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀測(cè)量槽——可比作微型電解缸——被用來(lái)剝離鍍層。 測(cè)量面積由裝在測(cè)量槽上的墊圈尺寸來(lái)決定。對(duì)不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 菲希爾電解法測(cè)厚儀電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個(gè)泵攪拌電解液來(lái)使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據(jù)測(cè)量區(qū)域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特殊功能

-同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差

-銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備

-可調(diào)節(jié)的電解電流

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用

STEP測(cè)試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)

用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量

在一定的厚度以上，X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了極限，這就是COULOSCOPE CMS2菲希爾電解法測(cè)厚儀發(fā)揮作用的地方。它用庫(kù)侖法測(cè)量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2菲希爾電解法測(cè)厚儀可以準(zhǔn)確地測(cè)量許多常見的單層和多層鍍層。

庫(kù)侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了最大的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。