FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

fischerscope xan500菲希爾x射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

菲希爾x射線測厚儀fischerscope XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用fischerscope XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺(tái)式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。

菲希爾x射線測厚儀特點(diǎn)

菲希爾x射線測厚儀通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)

測量點(diǎn)：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測器

用于戶外的IP54等級(jí)

用作臺(tái)式設(shè)備的可選測量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)