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環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥,綜合 |
鍍銀層厚度測量,菲希爾金屬鍍層膜厚儀,目前,有超過10000臺X射線儀器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強(qiáng)大,可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。
鍍銀層厚度測量
從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今,菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用,滿足客戶對儀器準(zhǔn)確度、精度和可靠性的要求。目前,有超過10000臺X射線儀器投入使用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強(qiáng)大,可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。
菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA):
能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
菲希爾X射線熒光法(XRFA)的優(yōu)點: