金銀鎳鍍層測(cè)厚儀

Fischerscope x-ray XAN菲希爾X射線測(cè)厚儀

Fischerscope X-RAY XAN® 系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性價(jià)比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

性：

• 操作簡(jiǎn)單且性價(jià)比高。

• 自下而上進(jìn)行測(cè)量，從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品

• 廣泛適用：為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號(hào)

• 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析

• 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型，可對(duì)薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量

Fischerscope X-RAY XAN應(yīng)用：

Fischerscope X-RAY XAN鍍層厚度測(cè)量

• 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層

• 時(shí)尚首飾：對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析

• 抗磨損鍍層，如：對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量

• 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM）

Fischerscope X-RAY XAN材料分析

• 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度

• 專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析

• 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）

• 功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量。

Fischerscope X-RAY XAN XUL / XULM

在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速且精確地測(cè)定鍍層厚度時(shí)，XUL®系列測(cè)量?jī)x器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量，能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。

金銀鎳鍍層測(cè)厚儀