HAST壽命試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：
1.採(cǎi)用臺(tái)制臺(tái)達(dá)彩色觸控式PLC控制濕度和蒸汽溫度(採(cǎi)用PT-100白金感溫體).
2.採(cǎi)用指針顯示壓力錶.
3.微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.
4.手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)).
hast高壓加速壽命試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);

HAST壽命試驗(yàn)箱在以下領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用：

集成電路（IC）：HAST試驗(yàn)箱可以對(duì)芯片進(jìn)行加速老化測(cè)試，評(píng)估其在高溫高濕環(huán)境下的可靠性和壽命，幫助提高芯片的質(zhì)量和穩(wěn)定性。

半導(dǎo)體器件：HAST試驗(yàn)箱可用于測(cè)試各種類(lèi)型的半導(dǎo)體器件，包括二極管、晶體管、功率模塊等。通過(guò)加速老化測(cè)試，可以評(píng)估器件的可靠性和失效機(jī)制。

電子元器件：HAST試驗(yàn)箱適用于各種電子元器件的壽命測(cè)試，如電容器、電阻器、電感器、連接器等。它可以模擬潮濕環(huán)境對(duì)元器件的影響，評(píng)估其性能和可靠性。

航空航天器件：HAST試驗(yàn)箱可用于測(cè)試航空航天器件的可靠性和耐久性，包括航天器電子設(shè)備、傳感器、通信設(shè)備等。它可以模擬航空航天環(huán)境中的高溫高濕條件，評(píng)估器件在環(huán)境下的性能。

汽車(chē)電子：HAST試驗(yàn)箱在汽車(chē)電子領(lǐng)域的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。它可以對(duì)汽車(chē)電子元器件進(jìn)行壽命測(cè)試，評(píng)估其在潮濕環(huán)境下的可靠性和耐久性，確保汽車(chē)電子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。

醫(yī)療電子：HAST試驗(yàn)箱可用于測(cè)試醫(yī)療電子設(shè)備的可靠性和耐久性，如醫(yī)療監(jiān)護(hù)儀、手術(shù)設(shè)備、診斷設(shè)備等。它可以模擬醫(yī)療環(huán)境中的高溫高濕條件，評(píng)估設(shè)備在長(zhǎng)期使用中的性能表現(xiàn)。