EPK MINITEST745測(cè)厚儀

●MiniTest 745 EPK測(cè)厚儀為ERICHSEN新一代的膜厚計(jì)，其測(cè)頭為新的可透過(guò)網(wǎng)際網(wǎng)絡(luò)更新的內(nèi)置微數(shù)據(jù)處理器的SIDSP測(cè)頭
●MiniTest 745 EPK測(cè)厚儀全系列為可更換式測(cè)頭，使用者僅需更換測(cè)頭就可以有不同的量程及功能（磁性或非磁性），甚至可以更換為內(nèi)置式使用或雙用（磁性以及非磁性）測(cè)量
●LCD屏幕顯示的信息可180度旋轉(zhuǎn)，
●內(nèi)置數(shù)據(jù)記憶，可記憶100000筆數(shù)據(jù)，多分100個(gè)批組，
●機(jī)器可自行進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析
●符合的規(guī)范有：DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840；ASTM B 244，B 499，D 7091，E 376；AS 3884.3；SS 1841；SSPC- PA2