菲希爾 X-RAY XDL230 X射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL 230 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

由于采用了FISCHER 基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。