菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL210

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 菲希爾X射線測厚儀XDL210/220/230/240測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件

• 防腐鍍層和裝飾性鍍層，如鎳/銅上的鉻

• 電鍍工業(yè)中電鍍液的分析

• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL應(yīng)用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和 XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器， 準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造激勵條件。