無錫冠亞冷熱一體機(jī)典型應(yīng)用于：

高壓反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、雙層玻璃反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、

雙層反應(yīng)釜冷熱源動態(tài)恒溫控制、微通道反應(yīng)器冷熱源恒溫控制；

小型恒溫控制系統(tǒng)、蒸飽系統(tǒng)控溫、材料低溫高溫老化測試、

組合化學(xué)冷源熱源恒溫控制、半導(dǎo)體設(shè)備冷卻加熱、真空室制冷加熱恒溫控制。

半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備

半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備

半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備應(yīng)用于半導(dǎo)體、芯片等元器件在-85~200℃的范圍內(nèi)進(jìn)行不同溫度段的溫度測試。

　　一、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備背景

　　在元器件行業(yè)中，對各種半導(dǎo)體、芯片的要求比較高，特別需要測試在不同環(huán)境下元器件的性能狀況以及在封裝組裝生產(chǎn)下不同的溫度測試以及其他性能測試，以免在元器件這類的電子產(chǎn)品在進(jìn)入生產(chǎn)之后實際投放市場面對各種不同尋常的環(huán)境導(dǎo)致電子元器件不可用。

　　二、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備的作用

　　半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備在元器件、集成電路、模塊、PCB、裝配等應(yīng)用上進(jìn)行高低溫循環(huán)測試、高低溫溫度沖擊測試，失效分析等可靠性測試。除了半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備還可稱為熱流儀、冷熱氣流沖擊機(jī)、冷熱循環(huán)沖擊裝置、高低溫氣流循環(huán)系統(tǒng)等。

　　半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備主要用于高低溫溫度測試模擬，一般溫度要求是低溫-45到高溫150度，測試元器件在高溫高壓的氣候條件下性能測試，通過高低溫測試再進(jìn)行判別設(shè)備的性能是否達(dá)到使用要求，以便元器的檢測以及出廠。

　　三、半導(dǎo)體高低溫測試設(shè)備應(yīng)用：

　　1、芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測試；

　　2、芯片的高低溫循環(huán)測試，疲勞失效測試；

　　3、芯片、模塊、集成電路、電子元器件等性能測試；

　　4、對設(shè)計的驗證；

　　5、失效分析；

　　6、可靠性分析；

　　7、對芯片封裝的溫度控制；

　　8、電子元器件耐溫及失效進(jìn)行測試和分析