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DR-H208
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東莞市
更新時間:2024-11-16 18:59:08瀏覽次數(shù):659次
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一、產(chǎn)品介紹
低溫低氣壓振動綜合試驗箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,同時可在試驗箱內(nèi)將電振動應力按規(guī)定的周期施加到試品上,供用戶對整機(或部件)、電器、儀器、材料等作溫濕度、低氣壓、振動綜合應力篩選試驗,以便考核試品的適應性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。與單一因素作用相比,更能真實地反映電工電子產(chǎn)品在運輸和實際使用過程中對溫濕度、低氣壓及振動復合環(huán)境變化的適應性,暴露產(chǎn)品的缺陷,是新產(chǎn)品研制、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程不可少的重要試驗手段。
二、產(chǎn)品特點
◆采用SUS304鏡面不銹鋼內(nèi)膽材料;
◆釆用鋼板表面噴塑外殼,造型新穎,美觀大方;
◆ 同一環(huán)境中,同時實現(xiàn)高低溫度快速交變,濕度交變,溫度氣壓交變,溫度濕度振動結(jié)合,溫度氣壓振動結(jié)合
◆制冷.電控關(guān)鍵配件均為國際品牌;
◆ 內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 耐熱耐寒不銹鋼板,經(jīng)鏡面處理;
◆可根據(jù)用戶要求選配不同型號的振動臺,保證冷、熱、氣密封的同時,振動臺具有良好的力學傳處特性:
◆制冷壓縮機組及主要配件均為法國泰康、美國比澤爾或德國博客,選用7寸LCD彩色液晶觸摸屏控制器,溫、濕度程序自動控制,配有R232通訊接口。
產(chǎn)品環(huán)境箱尺寸:
型號 DR-H208-225 DR-H208-408 DR-H208-800 DR-H208-1000
內(nèi)部尺寸(mm) 500*750*600 600*850*800 1000*1000*800 1000*1000*1000
性能指標 高溫范圍 150℃/200℃(特殊選購)
低溫范圍 A:0℃/B: -20℃/C:-40℃/D:-70℃(特殊選購)
濕度范圍 20~98%R.H(10%~98%R.H:5%~98%R.H為選購項目,需要加除濕機)
氣壓范圍 133kpa~常壓
升溫速率 1.0-4.0℃/min:5℃-15℃/min(特殊選購)
降溫速率 0.7-1.2℃/min:5℃℃-15℃/min(特殊選購)
溫度波動 士0.5℃
濕度波動 士2.0%R.H
溫度偏差 ±2℃
濕度偏差 士3.0%R.H
激振力 請參考電磁振動測試系統(tǒng)選型技術(shù)指標
低溫低氣壓振動綜合試驗箱
溫度濕度低氣壓振動綜合試驗箱
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A: 低溫
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.10-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc: 振動(正弦)
GB/T 2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓
GB/T 2423.27-2020電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗方法和導則:溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.35-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗和導則 氣候(溫度、濕度)和動力學(振動、沖擊)綜合試驗
GB/T 2423.43-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 2423.48-2018電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff:振動 時間歷程和正弦拍頻法
GB/T 2423.56-2018電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fh:寬帶隨機振動和導則
GB/T 2423.58-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-80部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式
GB/T 2423.59-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
GB/T 2423.63-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(混合模式)綜合
GB/T 2423.102-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
GB/T 12085.10-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.15-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第15部分:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.19-2011光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第19部分:溫度周期與正弦振動、隨機振動綜合試驗
GB/T 12085.22-2022光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗
GB/T 18328.1-2009振動發(fā)生設備選擇指南 第1部分:環(huán)境試驗設備
GB/T 2424.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分:支持文件和導則 振動試驗選擇
GB/T 32065.14-2019海洋儀器環(huán)境試驗方法 第14部分:振動試驗
GB/T 38924.6-2020民用輕小型無人機系統(tǒng)環(huán)境試驗方法 第6部分:振動試驗
GB/T 5170.13-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第13部分:振動(正弦)試驗用機械式振動系統(tǒng)
GB/T 5170.14-2009環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺
GB/T 5170.15-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第15部分:振動(正弦)試驗用液壓式振動系統(tǒng)
GB/T 5170.19-2018環(huán)境試驗設備檢驗方法 第19部分:溫度、振動(正弦)綜合試驗設備
GB/T 5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢驗方法 振動(隨機)試驗用液壓振動臺
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