hast高壓加速老化試驗箱設(shè)備特點：

1)采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2)獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長效實驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)400小時.

6)水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.

7)tank耐壓設(shè)計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置.

9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）

11)USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

hast高加速試驗箱（Highly Accelerated Stress Test）是一種用于進行電子元器件可靠性測試的設(shè)備，主要用于模擬高溫高濕條件下的加速老化環(huán)境，以評估元器件在惡劣條件下的可靠性和耐性。

hast高加速試驗箱通過提供高溫高濕環(huán)境以及一定的電氣應力，加速電子元器件的老化過程。它采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品暴露在高溫高濕條件下，并施加一定的電壓或電流，以模擬真實環(huán)境中的潮濕條件和電氣應力。

在HAST高加速試驗中，樣品通常被放置在密封的試驗室中，試驗箱具備溫度、濕度和壓力等參數(shù)的控制功能。通過加速老化過程，可以更快地觀察到可能出現(xiàn)的故障和退化現(xiàn)象，以便制造商及早發(fā)現(xiàn)并改進產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)工藝。

HAST高加速試驗箱廣泛應用于電子元器件、半導體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測試中。通過該設(shè)備，可以評估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能和壽命特性，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和穩(wěn)定性，滿足市場需求和用戶期望。