（一）、箱體構造：

2.1.1. 內(nèi)箱材料：采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過高精度數(shù)控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理，精美大方。

2.1.2. 外箱材料：采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過高精度數(shù)控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面，有效防止生銹，外觀烤漆處理。

2.1.3. 保溫材料：采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層，保溫效果明顯。

2.1.4. 斷熱層：高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱，吊籃移動孔連接板采用環(huán)氧樹脂板斷熱。

電子門鎖電路板冷熱沖擊試驗箱 是一種用于測試電子門鎖電路板在惡劣溫度變化下性能和可靠性的設備。該試驗箱模擬電子門鎖電路板在經(jīng)歷快速的冷熱溫差變化時的表現(xiàn)，評估其在實際環(huán)境中可能遇到的溫度波動下的適應能力、穩(wěn)定性和耐用性。

主要功能：

1. 冷熱沖擊測試：

• 通過將電子門鎖電路板暴露在冷熱溫差環(huán)境中，模擬電路板在短時間內(nèi)經(jīng)歷急劇的溫度變化，檢查其在不同溫度下的電氣性能、結構完整性及可靠性。

2. 溫度范圍：

• 冷熱沖擊試驗箱能夠提供從低溫（通常為-40°C至-60°C）到高溫（+70°C至+85°C）的溫度范圍，用于測試電子門鎖電路板在惡劣溫差下的工作狀態(tài)。

3. 快速溫度變化：

• 試驗箱可以迅速改變環(huán)境溫度，模擬實際應用中電子門鎖電路板可能遇到的快速溫度波動，測試電路板在此環(huán)境下的穩(wěn)定性。

4. 溫度循環(huán)：

• 電路板將在冷熱沖擊試驗箱中經(jīng)歷多個溫度變化循環(huán)，評估電路板在長時間溫度波動下的穩(wěn)定性和耐用性。

測試重點：

1. 電路板電氣性能：

• 測試電路板在低溫和高溫環(huán)境下的電氣性能，如電源電壓、信號傳輸、通訊穩(wěn)定性等，確保電路板在冷熱環(huán)境下能正常工作。

2. 啟動與工作穩(wěn)定性：

• 檢查電子門鎖電路板在冷熱交替的環(huán)境下的啟動性能和運行穩(wěn)定性，包括門鎖是否能正常響應指令、是否存在延遲或失敗等問題。

3. 結構與焊接質(zhì)量：

• 電子門鎖電路板中的焊接點、連接線和元器件可能在溫差變化下發(fā)生物理變形或脫落，需檢查電路板的結構是否穩(wěn)定，焊接點是否牢固。

4. 零部件耐溫性：

• 測試電路板上使用的各類電子元器件（如電容、電阻、集成電路等）是否能在惡劣溫度下保持性能，確保它們不受溫度變化的影響而出現(xiàn)故障。

5. 外觀與物理損傷：

• 檢查電路板是否因冷熱沖擊而出現(xiàn)裂紋、變形、脫膠等物理損壞現(xiàn)象，確保電路板的完整性。

6. 長時間穩(wěn)定性：

• 通過反復的冷熱溫差交替測試，評估電路板在長期使用中的穩(wěn)定性，驗證其抗冷熱沖擊的能力，確保其可以在實際使用中保持可靠性。

測試后的評估：

1. 電氣性能評估：

• 測試電路板在經(jīng)歷冷熱沖擊測試后的電氣性能，確保電路板沒有出現(xiàn)故障，信號傳輸穩(wěn)定，工作功能正常。

2. 結構檢查：

• 對電路板的物理結構進行檢查，確保在冷熱沖擊測試后沒有出現(xiàn)裂紋、松動或脫落的情況，確保元器件的牢固性。

3. 安全性驗證：

• 評估電路板在冷熱沖擊測試后的安全性，確保沒有過熱、短路、燒毀等潛在風險，確保使用過程中不會發(fā)生電氣故障。

4. 可靠性評估：

• 根據(jù)測試結果，評估電子門鎖電路板的長期使用可靠性，預測其在實際環(huán)境中能承受的溫度波動范圍。

應用場景：

1. 產(chǎn)品研發(fā)：

• 在電子門鎖電路板的設計和開發(fā)階段，冷熱沖擊試驗有助于測試電路板在不同溫度條件下的表現(xiàn)，提前發(fā)現(xiàn)潛在問題并進行設計優(yōu)化。

2. 質(zhì)量控制：

• 在生產(chǎn)過程中進行冷熱沖擊測試，可以確保每批次的電子門鎖電路板在惡劣環(huán)境下的性能和質(zhì)量，防止不合格產(chǎn)品流入市場。

3. 認證與標準測試：

• 許多認證要求電子設備在惡劣溫差下表現(xiàn)良好，冷熱沖擊測試有助于電子門鎖產(chǎn)品符合國際標準（如CE、UL等），并獲得相關的安全認證。

工作原理：

1. 低溫測試：

• 將電子門鎖電路板放入試驗箱的低溫環(huán)境中，測試電路板在低溫下的啟動和工作性能，檢查是否會出現(xiàn)電路板凍結、反應遲緩等問題。

2. 高溫測試：

• 試驗箱將溫度提升至高溫環(huán)境，測試電路板在高溫下的穩(wěn)定性，檢查是否會發(fā)生過熱、元器件失效等問題。

3. 溫度循環(huán)測試：

• 電路板將在高溫和低溫之間反復變化，模擬實際使用中可能出現(xiàn)的環(huán)境溫度變化，評估其長時間適應溫差的能力。

4. 快速溫度變化：

• 試驗箱可以迅速改變溫度，測試電路板在短時間內(nèi)的溫度適應能力，模擬電子門鎖在實際使用中的環(huán)境波動。

測試標準：

冷熱沖擊試驗一般遵循以下標準：

• IEC 60068-2-14：環(huán)境試驗的冷熱沖擊標準，適用于電子電氣設備的冷熱沖擊測試。

• UL 60950-1：電子設備的安全標準，規(guī)定了設備在惡劣溫度下的表現(xiàn)要求。

• ISO 16750：汽車電氣設備的環(huán)境測試標準，涵蓋了設備在溫差變化中的表現(xiàn)。

• JIS C 60068-2-14：日本工業(yè)標準，用于冷熱沖擊試驗。

總結：

電子門鎖電路板冷熱沖擊試驗箱是一個用于驗證電路板在惡劣溫差變化下的性能和可靠性的測試設備。通過模擬電路板在短時間內(nèi)經(jīng)歷冷熱溫差變化的情況，能夠評估電子門鎖電路板在不同溫度環(huán)境中的穩(wěn)定性、耐用性和安全性。這對于確保電子門鎖在各種環(huán)境下可靠工作、提高產(chǎn)品質(zhì)量和滿足國際標準具有重要作用。