果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術，擁有探針冷熱臺、光學冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫熱臺、高低溫試驗箱等多款技術產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。
X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產(chǎn)生的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中廣泛應用。
X射線衍射分析法目前已廣泛應用于物相的定性或定量分析、晶體結構分析、材料結構分析、宏觀應力或微觀應力測定等方面。
賽默飛（Thermo Scientific） ARL™ EQUINOX 3500是ARL EQUINOX 3000 的升級版。EQUINOX3500配備了更大曲率半徑的探測器，可根據(jù)需要獲取高分辨率XRD 數(shù)據(jù)。
在不同溫度下測試的樣品物相可能會發(fā)生變化，XRD原位冷熱臺可以為樣品提供良好的變溫測試條件，從而滿足樣品在不同溫度下的測試需求。
根據(jù)客戶需求，果果儀器定制XRD原位冷熱臺適合于粉末樣品在變溫下進行X射線結構研究，適配賽默飛X射線衍射儀進行變溫X射線衍射測試。產(chǎn)品可更換上蓋，作為普通冷熱臺使用；可調節(jié)高度，滿足不同厚度樣品測試。
本產(chǎn)品包含溫度控制器、致冷控制器、循環(huán)水系統(tǒng)，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集，提供的Labview Vis方便客戶進行定制化編程。
產(chǎn)品主要技術參數(shù)：
1、溫控范圍：-190°C~600°C（氣氛環(huán)境），-190°C~400°C（真空環(huán)境）；
2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）；
3、溫度分辨率：0.1℃;
4、衍射角：∠0～∠164°；
5、可更換上蓋，作普通冷熱臺使用。
↑ XRD原位冷熱臺適配賽默飛X射線衍射儀進行變溫X射線衍射測試 ↑
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