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晶圓缺陷目視用現(xiàn)貨高亮度鹵素射燈YP-150I高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

光學檢測YP-250I目視用霧度檢查裝置 現(xiàn)貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

光學檢測目視用霧度檢查裝置YP-150I現(xiàn)貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等...

光學檢測目視用YP-250ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

光學檢測目視用YP-150ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

晶圓檢測目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現(xiàn)貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓檢測目視用UIH-1H霧度檢查用照明裝置一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓光學檢測目視檢查燈UIH-1H照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓 光學檢測目視檢查燈UIH-1C照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓 光學檢測目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

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晶圓缺陷目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3D當高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：半...

現(xiàn)貨晶圓缺陷鹵素燈UIH-3D灰塵照射檢測燈當高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學INTECS英特斯超亮度檢查燈當高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學INTECS英特斯超亮度檢查燈當高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學INTECS英特斯超亮度檢查燈當高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制...

安德魯斯S-VAN光學檢測目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造...

光學檢測設(shè)備目視光源185HLE照明裝置現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行...