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LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀功能及注意事項(xiàng)

閱讀:94      發(fā)布時(shí)間:2024-11-14
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LCR測(cè)試儀可以準(zhǔn)確、穩(wěn)定地測(cè)量各種元件參數(shù),主要用于測(cè)試電感、電容和電阻。它具有直接功能、操作簡(jiǎn)單的特點(diǎn),可以滿(mǎn)足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、采購(gòu)檢驗(yàn)、電子維護(hù)等行業(yè)的檢測(cè)要求,預(yù)算較低。      

LCR測(cè)試儀的主要功能  

數(shù)字電橋可用于測(cè)量測(cè)試部門(mén)阻抗測(cè)量工具的驗(yàn)證和傳輸,也可用于綜合部門(mén)阻抗元件的日常測(cè)量。許多數(shù)字電橋都有標(biāo)準(zhǔn)接口,可以根據(jù)測(cè)量值的準(zhǔn)確性自動(dòng)對(duì)測(cè)量元件進(jìn)行分類(lèi);也可以直接連接到自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),在元件生產(chǎn)線上進(jìn)行產(chǎn)品自動(dòng)測(cè)試,實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程。質(zhì)量控制。20世紀(jì)80年代中期,有幾十種常見(jiàn)的數(shù)字橋接器,誤差小于0.1%。數(shù)字橋正朝著更高的精度、更多的功能、更高的速度、集成和智能發(fā)展。   

電容C、電感L、電阻R是電子工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)中常用的電子元件。作為一種常見(jiàn)的小型無(wú)源設(shè)備,它確實(shí)會(huì)影響電路參數(shù),直接影響電子產(chǎn)品的優(yōu)缺點(diǎn)。因此,我們需要了解每個(gè)元件的特征參數(shù)(電容器/電感器/電阻),并始終準(zhǔn)確測(cè)量它們。   

LCR測(cè)試儀用于測(cè)試元件的參數(shù)(電容/電感/電阻)。一般來(lái)說(shuō),電阻只能測(cè)量其直流電阻值。這樣,萬(wàn)用表或電阻測(cè)試儀就可以使用了。與普通電阻不同,交流電必須用于測(cè)量電感和電容。LCR測(cè)試儀使用交流電進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于交流電,電壓V與電流I的比值為阻抗Z。直流模式下的電阻R只需用“大小"表示,而阻抗Z包含“大小"和“相位"兩個(gè)要素,數(shù)學(xué)上用復(fù)數(shù)和矢量表示?!?/p>

LCR測(cè)試儀的參數(shù)含義  

LCR測(cè)試儀因其直接的功能和易于操作的測(cè)試方法而得到了廣泛的應(yīng)用。通常使用LCR測(cè)試儀準(zhǔn)確測(cè)試各部件的參數(shù),效果非常穩(wěn)定,以確保生產(chǎn)質(zhì)量,節(jié)省企業(yè)成本。D和Q經(jīng)常顯示在LCR測(cè)試儀中。然而,很多人都不知道這意味著什么。LP和LS也存在于LCR測(cè)試儀的參數(shù)中,我不知道有什么區(qū)別。以下是對(duì)這兩個(gè)問(wèn)題的回答。   

顯示在LCR測(cè)試儀上的D是損耗角的正切角,Q是質(zhì)量因素。這兩個(gè)數(shù)量的定義如下:   

  1. 損耗值切角:   

    如果給電容器施加電壓,除充電電流外,還有泄漏電流(電容器泄漏電流)。泄漏電流以熱能的形式消耗,因此表示電阻上的電流。純電容器的泄漏電流與充電電流之比是電容器損耗角的正切值。   

  2. 品質(zhì)因素:   

    電和磁的量。表示儲(chǔ)能器件(如電感線圈、電容器等)的質(zhì)量指標(biāo)。和諧振電路中儲(chǔ)存的能量與每個(gè)周期的能量損失之比;串聯(lián)諧振電路中電抗元件的Q值等于電抗與等效串聯(lián)電阻之比;組件的Q值越大,組件組成的電路或網(wǎng)絡(luò)的選擇性越好。   

LCR測(cè)試儀中的電感、電容和電阻參數(shù)測(cè)量?jī)x不僅可以自動(dòng)判斷元件的性質(zhì),還可以顯示符號(hào)圖形和值。Q也可以測(cè)量、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等參數(shù),并顯示等效電路圖形。  

LCR測(cè)試儀測(cè)量步驟  

LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容器,測(cè)量步驟如下:   

1、設(shè)置測(cè)試頻率   

2、測(cè)試電壓或電流水平   

3、選擇測(cè)試參數(shù),如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等   

4、儀器校準(zhǔn)、校準(zhǔn)主要是開(kāi)路、短路校準(zhǔn)、負(fù)載校準(zhǔn)   

5、選用測(cè)試夾具   

6、夾具補(bǔ)償   

7、把DUT放在夾具上開(kāi)始測(cè)試   

LCR測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)  

  1. 選擇正確的測(cè)試條件。組件制造商給出的組件參數(shù)值代表了在規(guī)定的測(cè)量條件下可以實(shí)現(xiàn)的性能和允許的偏差值。在不同的測(cè)試頻率下,電容器參數(shù)發(fā)生非線性變化,因此在測(cè)量組件時(shí),我們必須選擇合適的測(cè)量頻率和測(cè)量電壓。此外,部分設(shè)備還可能需要設(shè)置偏置電壓等測(cè)試條件。   

  2. 選擇合適的測(cè)量工具。測(cè)量工具也是LCR測(cè)試儀的重要組成部分。對(duì)于包裝方法多樣化的組件,LCR也有多種測(cè)量工具選擇。合適的測(cè)量工具不僅帶來(lái)了測(cè)量的便利,而且保證了測(cè)量的準(zhǔn)確性。   

  3. 正確的零點(diǎn)校正。LCR測(cè)試儀的零點(diǎn)漂移會(huì)隨著測(cè)試條件或測(cè)試工具的變化而變化,因此有必要對(duì)開(kāi)路和短路進(jìn)行零點(diǎn)校正。LCR測(cè)試儀設(shè)置開(kāi)路和短路校正。      

以上就是LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀功能及注意事項(xiàng)的相關(guān)介紹。

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