目錄:蘇州威銳科電子有限公司>>半導體特性分析儀>>同惠半導體特性分析性>> TH512半導體特性分析儀
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
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TH510系列半導體特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢,針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。
儀器采用了一體化集成設計,二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試,無需頻繁切換接線及設置參數(shù),單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試,適用于生產線快速測試、自動化集成。
CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。
儀器設計頻率為1kHz-2MHz,VGS電壓可達±40V,VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V,足以滿足大多數(shù)功率器件測試。
TH510系列半導體特性分析儀性能特點:
l 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件
l 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選 件)三種測試方式
l 四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、 Rg)同屏一鍵測量及顯示
l 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件
l CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描
l 電容快速充電技術,實現(xiàn)快速測試
l 接觸檢査Cont
l 通斷測試OP_SH
l 自動延時設置
l 柵極電壓VGS;0 - 土40V
l 漏極電壓VDS;0 -±200V
l 10檔分選
功能特點:
A.一體化測試,集成度高、體積小、效率高
一臺儀器內置了LCR數(shù)字電橋、VGS電壓源、VDS電壓源、高低壓切換矩陣以及上位機軟件,將復雜的接線、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內,操作更簡單。特別適合產線快速化、自動化測試。
B.單管器件測試,10.1寸大屏,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細節(jié)一覽無遺
MOSFET或IGBT最重要的四個寄生參數(shù):Ciss、Coss、Crss、Rg,Cies、Coes、Cres、Rg均可一鍵測試,10.1寸大屏可同時將測量結果、等效電路圖、分選結果等重要參數(shù)同時顯示,一目了然。
一鍵測試單管器件器件時,無需頻繁切換測試腳位、測量參數(shù)、測量結果,大大提高了測試效率。
C.列表測試,多個、多芯、模組器件測量參數(shù)同屏顯示
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個單管器件、6芯器件或6模組器件測試,所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時顯示測試結果及判斷結果。
D.曲線掃描功能(選件)
在MOSFET的參數(shù)中,CV特性曲線也是一個非常重要的指標,如下圖
TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線。
E.接觸檢查(Contact)功能,提前排除自動化測試隱患
F.快速通斷測試(OP_SH),排除損壞器件
在半導體器件特性測試時,由于半器件本身是損壞件,特別是多芯器件其中一個芯已經損壞的情況下,測試雜散電容仍有可能被為合格,而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。
因此,對于本身導通特性不良的產品進行C-V特性測試是沒有必要的,不僅僅浪費了測量時間,同時會由于C-V合格而混雜在良品里,導致成品出貨后被退回帶來損失.
TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試(OP_SH)功能,可用于直接判斷器件本身導通性能。
G.模組式器件設置,支持定制
針對模組式器件如雙路(Dual)MOSFET、多組式IGBT,有些器件會有不同類型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化,常見模組式芯片Demo已內置,特殊芯片支持定制.
H.簡單快捷設置
I.10檔分選及可編程HANDLER接口
J.支持定制化,智能固件升級方式
同惠儀器對于客戶而言是開放的,儀器所有接口、指令集均為開放設計,客戶可自行編程集成或進行功能定制,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級方式更新。
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等,都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新,而無需返廠進行。
固件升級非常智能,可以通過系統(tǒng)設置界面或者文件管理界面進行,智能搜索儀器內存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內升級包,并自動進行升級
K.解決Ciss、Coss、Crss、Rg產線/自動化系統(tǒng)高速測試精度
同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經驗積累,得以在產線、自動化測試等高速高精度測試場合,都能保證電容、電阻等測試精度。
常規(guī)產線測試,提供標準0米測試夾具,直插器件可直接插入進行測試,Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度高。
針對自動化測試,由于自動化設備測試工裝通常需要較長連接線,大多自動化設備生產商在延長測試線時會帶來很大的精度偏差,為此,同惠設計了2米延長線并內置了2米校準,保證Ciss、Coss、Crss、Rg測試精度和0米測試夾具一致。
L.半導體元件寄生電容知識
在高頻電路中,半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性,所以在設計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅動能力和開關損耗等多方面特性;寄生電容的電壓依賴性在電路設計中也是至關重要,以MOSFET為例。
M.標配附件
產品應用:
■ 半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析
■ 半導體材料
晶圓切割、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
■電容元件
電容器C-V特性測試及分析,電容式傳感器測試分析
同惠授權代理商:蘇州威銳科電子有限公司
我們的優(yōu)勢:同惠、是德、泰克、日置、固緯、海思、安柏、艾德克斯、普源等
技術參數(shù):
產品型號 | TH511 | TH512 | TH513 | ||
通道數(shù) | 2(可選配4/6通道) | 1 | |||
顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對角線)電容觸摸屏 | |||
比例 | 16:9 | ||||
分辨率 | 1280×RGB×800 | ||||
測量參數(shù) | Ciss、Coss、Crss、Rg,四參數(shù)任意選擇 | ||||
測試頻率 | 范圍 | 1kHz-2MHz | |||
精度 | 0.01% | ||||
分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | |||||
1Hz 100.000kHz-999.999kHz | |||||
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | |||||
測試電平 | 電壓范圍 | 5mVrms-2Vrms | |||
準確度 | ±(10%×設定值+2mV) | ||||
分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | ||||
10mVrms 1Vrms-2Vrms | |||||
VGS電壓 | 范圍 | 0 - ±40V | |||
準確度 | 1%×設定電壓+8mV | ||||
分辨率 | 1mV 0V - ±10V | ||||
10mV ±10V -±40V | |||||
VDS電壓 | 范圍 | 0 - ±200V | 0 - ±1500V | 0 - ±3000V | |
準確度 | 1%×設定電壓+100mV | ||||
輸出阻抗 | 100Ω,±2%@1kHz | ||||
數(shù)學運算 | 與標稱值的絕對偏差Δ,與標稱值的百分比偏差Δ% | ||||
校準功能 | 開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD | ||||
測量平均 | 1-255次 | ||||
AD轉換時間(ms/次) | 快速+:0.56ms(>5kHz) 快速:3.3ms 中速:90ms 慢速:220ms | ||||
最高準確度 | 0.5%(具體參考說明書) | ||||
Ciss、Coss、Crss | 0.00001pF - 9.99999F | ||||
Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | ||||
Δ% | ±(0.000% - 999.9%) | ||||
多功能參數(shù)列表掃描 | 點數(shù) | 50點,每個點可設置平均數(shù),每個點可單獨分選 | |||
參數(shù) | 測試頻率、Vg、Vd、通道 | ||||
觸發(fā)模式 | 順序SEQ:當一次觸發(fā)后,在所有掃描點測量,/EOM/INDEX只輸出一次 | ||||
步進STEP:每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量,每點均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出 | |||||
圖形掃描 | 掃描點數(shù) | 任意點可選,最多1001點 | |||
結果顯示 | 同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 | ||||
顯示范圍 | 實時自動、鎖定 | ||||
坐標標尺 | 對數(shù)、線性 | ||||
掃描參數(shù)觸發(fā)方式 | Vg、Vd | ||||
手動觸發(fā)一次,從起點到終點一次掃描完成,下個觸發(fā)信號啟動新一次掃描 | |||||
從起點到終點無限次循環(huán)掃描 | |||||
結果保存 | 圖形、文件 |