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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>光學(xué)儀表>>光源>> KT-M1020D/M1021D/M1022D日本kenko-tokina檢查用光源設(shè)備LED照射
產(chǎn)品型號KT-M1020D/M1021D/M1022D
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2024-10-13 12:21:56瀏覽次數(shù)：295次
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日本ark-t檢測表面劃痕、異物L(fēng)ED光源檢查燈
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
日本kenko-tokina檢查用光源設(shè)備LED照射 KT-M1020D/M1021D/M1022D 特點介紹
以鹵素?zé)魹橹饕庠矗?/span>
可以選擇輸出波長的光源裝置。
?為了用LED照射多個單一波長，
需要準備多種LED照明，但現(xiàn)在可以用單一波長可變光源
照射多個波長。
- 與之前的型號 (KT-M1020) 相比，功能顯著改進。
?可以在專用PC應(yīng)用程序上輸出任何波長。
通過命令，也可以從設(shè)備側(cè)控制裝置直接進行操作。
? 通過硅片觀察背面圖案
? 選擇水果的糖度、大小、破損、品種、新鮮度等
? 食品、藥品中混入的異物檢測、品種選擇
? 樹脂材料選擇、變質(zhì)判斷
? 膜厚測量
? 不透明樹脂容器和包裝的透明檢查（非破壞性檢查）
? 單色 LED 照明和 BP 濾光片的替代品
日本kenko-tokina檢查用光源設(shè)備LED照射 KT-M1020D/M1021D/M1022D 規(guī)格參數(shù)
LVF是一種機械位置和波長在設(shè)定波長范圍內(nèi)線性變化的濾光片，可以根據(jù)照射位置選擇波長。光譜成像通過測量物質(zhì)對光的反應(yīng)，即給定波長下物質(zhì)的反射光、透射光和吸收光的差異，可以檢查各種物體的異物、劃痕、內(nèi)部狀況等。使能夠。
KT-M1020 選擇 SWIR 波段中的波長，可與 SWIR 相機結(jié)合使用，創(chuàng)建高效且有效的系統(tǒng)。
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