接觸式探頭：
接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的聲阻抗。
接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。
優(yōu)勢
• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。
• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。
• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。
• 可用于檢測多種材料。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。
• 分層缺陷的探測和定量。
• 材料特性評價(jià)和聲速測量。
• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。
• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。
指尖接觸式
• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。
• 303不銹鋼外殼。
• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測難于接觸到的表面。
• 根據(jù)客戶的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。
6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號為CAP4；3毫米
（0.125英寸）套筒的工件編號為CAP8。
• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。
雙晶探頭：
雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。
雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請咨詢我們。
優(yōu)勢
• 改進(jìn)了近表面的分辨率。
• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。
• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。
• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍?。
• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。
• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。
應(yīng)用
• 剩余壁厚測量。
• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。
• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。
• 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。
• 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。
• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）。
角度聲束探頭：
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波
發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無法到達(dá)希望檢測的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號。
角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。
優(yōu)勢
• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，還表現(xiàn)出的防磨特性。
• 高溫楔塊可對熱材料進(jìn)行在役檢測。
• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。
• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。
• 具有外形吻合性能。
• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì)。
應(yīng)用
• 缺陷探測與定量。
• 要了解衍射時(shí)差探頭，請參閱第35頁。
• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。
袖珍旋入式探頭
• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。
• 不同頻率的探頭顏色不同。
• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。
延遲塊探頭：
延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。
可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。
• 較高的探頭頻率提高了分辨率。
• 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。
應(yīng)用
• 精確測厚。
• 垂直聲束缺陷探測。
• 對接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測。可更換延遲塊探頭
• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。
• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。
• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。
保護(hù)面探頭：
保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。
保護(hù)面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭，可以裝配延遲塊、保護(hù)膜，或保護(hù)防磨
帽。
優(yōu)勢
• 具有很強(qiáng)的靈活適用性，提供可拆裝延遲塊、保護(hù)防磨帽和保護(hù)膜。
• 單獨(dú)使用探頭時(shí)（沒有附加任何可選配件），其環(huán)氧防磨面可提供匹配于塑料、很多復(fù)合材料及其它低阻抗材料的適當(dāng)?shù)穆曌杩埂?/span>
• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊、保護(hù)膜和防磨帽的安裝。
應(yīng)用
• 垂直聲束缺陷探測
• 厚度測量
• 高溫檢測
• 平板、坯材、棒材及鍛件的檢測標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)面•
• 探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手套時(shí)抓取和握持探頭。
• 標(biāo)準(zhǔn)的連接器類型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器。
• 延遲塊、保護(hù)膜及防磨帽需與探頭分開訂購。
水浸探頭：
水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時(shí)，可以*浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對必須對工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來說，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。
水浸探頭是一種單晶縱波探頭，帶有一個(gè)在聲學(xué)特性上與水相配的1/4波長的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測工件中傳播而特別設(shè)計(jì)的。
優(yōu)勢
• 水浸技術(shù)提供了一種均勻耦合的方法。
• 四分之一波長的匹配層加強(qiáng)了聲能的輸出。
• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。
• 射頻屏蔽功能可以提高關(guān)鍵性應(yīng)用的信噪比特性。
• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進(jìn)行球面（點(diǎn)）聚焦或柱面（線）聚焦。
• 用戶定制的聚焦長度可根據(jù)用戶需求聚焦聲束，以提高檢測小反射體的靈敏度。
應(yīng)用
• 自動(dòng)掃查。
• 在線厚度測量。
• 高速探測管道、棒材、管件、平板及其它類似部件中的缺陷。
• 基于渡越時(shí)間和波幅的成像功能。
• 穿透檢測。
• 材料分析及聲速測量。
使用注意事項(xiàng)：
探頭浸于水中的時(shí)間不能超過8小時(shí)。探頭需要有16小時(shí)的干燥時(shí)間，以保證其使用壽命。
高頻探頭：
高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225
MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測應(yīng)用的理想探頭。
高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。
優(yōu)勢
• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了時(shí)間分辨率。
• 短波長可獲得*的缺陷分辨率能力。
• 直徑極小的聲束也可以聚焦。
• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。
應(yīng)用
• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。
• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。
• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。
• 可對陶瓷及高級工程材料進(jìn)行檢測。
• 可對材料進(jìn)行分析。
*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式
• 使用直接接觸檢測法時(shí)，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評價(jià)、材料分析或厚度測量。
• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。
• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。
數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測系統(tǒng) | 超聲波 | X射線
特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
如果您正有一個(gè)檢測難題需要解決，而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問題，那么您需要讀讀這本小冊子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過檢測驗(yàn)證，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測問題。
由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產(chǎn)品型號的編號上對探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對檢測任務(wù)有詳細(xì)的了解。
*解決方案是您能發(fā)給我們檢測物件的圖紙，上面標(biāo)有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊子里沒有找到與您的檢測問題相關(guān)的信息，也請把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們，我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂意為您尋求最佳解決方案并為您提供合適的探頭。
特殊探頭能為您解決特殊檢測問題
① RB…,MRB…型
用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測管道的。Lemo00接頭。
② IR…型
從管道內(nèi)部檢測缺陷或測量厚度。
③ Z4R6X6/6X
多晶片探頭—4MHz，6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他
頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。
④ IALF10…型
10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m
Lemo1接口探頭線?？商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。
鐵軌檢測探頭
① SESZS…型
4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭。
② SESZW…型
雙晶斜探頭，聲束同時(shí)向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。
③ WB45-01型
45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測鐵軌。
注釋:
SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統(tǒng)自動(dòng)檢測。用于坯餅檢測時(shí)請參
考第6頁，板坯檢測。關(guān)于其他的檢測問題，請聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。
用于軸承和輪軸
① B2S-0A…型
1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護(hù)膜。通過不同角度延
遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏
心位置的體積型缺陷。
② AW…型
斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探
傷，探頭接觸面可與曲面耦合。
③ ASW…型
斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個(gè)。
④ B…S, MB…S
直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為
Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。
⑤ Z2GB1, Z4NB5
帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設(shè)計(jì)，與Lemo 00插頭匹配。
注釋:
對于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差)，請參照第15頁“粗晶結(jié)構(gòu)材料
的檢測”。關(guān)于特大軸承檢測請參照第6頁“大型部件檢測”。
用于板坯
① SEZ4R10…型
雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個(gè)Lemo1接頭。
① 5Z6X27ND型
雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。
② B…S-O型
提供各種頻率的直探頭，可更換保護(hù)膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。
③ SEZ4N30V，SEB4TV型
4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。
④ UWB…
1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接
口，用于產(chǎn)生蘭姆波。
用于大型部件
① NQP…型
用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或
75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相
鄰缺陷。
② WQP…型
聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。
③ SEB…G型
雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。
④ GRST…型
相控陣探頭，聲束焦點(diǎn)和角度可變，可用于自動(dòng)檢測系統(tǒng)。
用于特殊形狀工件
例如飛機(jī)零件
① G…MN，G…KS型
多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為
Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測 量 。 檢 測 塑 料 時(shí) ， 延 遲 塊 可 根
據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) ， 使 延 遲 塊 跟工件耦合，消除界面回波（0界面探頭）。
② H…MN…F型
高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防
水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量。
③ SMWB…
小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測。
例如：汽車部件
汽車零件的檢測幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的?；钊y門，輪軸，齒輪檢測的相關(guān)信
息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點(diǎn)焊檢測的信息參見第10頁。
用于混凝土，石頭，和木材
① B0.05N，B0.05U…型
直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號衰減弱，Lemo1接頭；只
能用于穿透式檢測。我們可以提供更高頻率探頭。
② B0.05NN型
直探頭，50KHZ，探頭通過增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號，聲束傳播直徑大，Lemo1接
頭，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(如木材）。
③ K0.1G，K0.25G型
100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續(xù)時(shí)間
短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時(shí)間。
③ B…SL，G0.5G型
250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。
用于陶瓷（如絕緣材料）
① K…G，K…N 型
高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。
② IB…
2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中。
③ IW…B…
4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn)。注釋：大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。
用于簡單復(fù)合纖維塑料
① G…NS，G…KS型
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，Lemo00接頭?？梢愿鶕?jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測量。
② CA212，CA214
高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量。
② G…N，G…KB
各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。
③ W70B2GT型
70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。
說明：
關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測 請 參 見 特 別 版SD277資料，干耦合檢測相關(guān)信息見第14頁。
用于點(diǎn)焊檢測
① G20MN…型
高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護(hù)膜密封，用于點(diǎn)焊檢測；晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請看特別版SD272。
用于精密部件檢測
① G…MN型
各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點(diǎn)焊檢測。
② H…NA，H…KA，H…MA型
各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測量。
③ H...KP...F, H...MP...F型
各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測的噴水耦合噴嘴。
膠接層檢測
例如在滑動(dòng)軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動(dòng)襯板粘結(jié)檢測，關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測信息請查閱另外更詳細(xì)的資料SD288。然而，對于大部分檢測應(yīng)用要求，標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求，請聯(lián)系我們-我們將為您提供最合適的探頭。
腐蝕檢測
- DA312
雙晶探頭檢測的最小厚度為0.6mm。
DA412
性能與DA312一樣，比DA312多對話功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。
DA311
相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301，只是探頭接口在頂部。
DA303
2MHz雙晶探頭，用于測量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料。
DA0，8G
雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料（例如，鑄件或者塑料）。
DA408
與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對話功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。
DA317類型
雙晶探頭用于檢測厚度比較小并且表面溫度最大為300℃的工件，該型號探頭的耦合穩(wěn)定性非常好。
DA319
與DA312相同，只是該型號能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件。
HT400
雙 晶 探 頭 用 于 檢 測 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件，在室溫下可測量的最小厚度為0.8mm。
DA305
雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測。
DA類型
一個(gè)非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。
CA212，CA214
高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz，通 過 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護(hù)膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測 厚 儀 測 量 厚度值。
用于測試材料特性
例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量。
G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。
G…K型為
Microdot接頭。適合測量縱波聲速。
SM-P…型
各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應(yīng)力。
K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。
注釋：
如有需要，橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。
Z20m型
20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。
注釋：
硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測量的先決條件。參見SD284。
Z10M型
10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。
串聯(lián)式焊縫檢測
- W45SEK2/…型
45º斜探頭，雙晶片，兩晶片的聲軸交點(diǎn)在焊縫中心；適用于對接焊。
② D45N2…型
各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測?？捎糜跈C(jī)械自動(dòng)檢測。
高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測
- W…B2GV，W…B4GV
45º，60º，70º斜探頭，頻率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測。
② SEB4KV
4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測量。
LWG854型
防輻射探頭：如檢測滲水燃油桿。
③ H5KV型
5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測輸油管道連續(xù)厚度測量和缺陷檢測，用特殊的表面保護(hù)層可用于腐蝕性材料檢測。
④ K5KVB4型
5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測。
注釋：
高溫測厚探頭詳細(xì)資料見第11頁。
用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，空間接觸面積受限制的工件
SMWB型
小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。
② K…M…型
各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細(xì)探頭線。可提供接觸面直徑為2mm的錐形延遲塊。
③ WSY型
90º爬波探頭，Lemo00接頭，用來檢測難以接近的位置。
注釋：
爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無法檢測到的缺陷可以用爬波檢測到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。
不用耦合劑（干耦合）檢測
如果在檢測工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來代替。
用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測工件耦合。滾筒探頭，
B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒有耦合的情況下連續(xù)檢測。在這種情
況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)
使探頭不能與工件耦合。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測。詳情請參見SD261。
用于粗晶材料的檢測（鑄件和奧氏體材料）
很多用于檢測粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。
包括：
- K…S，K…SM
各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過螺紋固定保護(hù)膜，延遲線和斜楔。
② WRY…，WSY…
45º，60º，70º縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。
③ VRY…，VSY…
45º，60º，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角、接頭型號不同的探頭，請聯(lián)系我們，我們將給您提供最佳探頭，使其能滿足您的應(yīng)用需求。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測
很多國家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測的檢測方法和規(guī)范。這些
標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大，在此對于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。
如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭，請聯(lián)系我們，如果您急需探頭的話，我
們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料。
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