美國(guó)GE超聲波測(cè)厚儀高溫探頭線KBA535
超聲波測(cè)厚儀DM5E系列
超聲波測(cè)厚儀 - DM5EBasic
超聲波測(cè)厚儀 - DM5E
超聲波測(cè)厚儀 - DM5EDL
探頭參數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)探頭-DA501EN -1.0~200mm/5MHz/?12mm
超厚探頭-DA503EN - 5.0~300mm/2MHz/?16mm
超薄探頭DA512EN - 0.6~60mm/7.5MHz/?7.5mm/自帶線
高溫探頭-DA590 - 1.3~25.4mm
標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301 - 用于 DM4/1.2~200mm/5MHz/?12.5mm
高溫探頭HT400 - 用于DM4
超聲波測(cè)厚儀探頭導(dǎo)線KBA535 配 用于 HT400/DA590/DA590EN 探頭/鎧裝探頭線
美國(guó)GE超聲波測(cè)厚儀高溫探頭線KBA535參數(shù)
探頭線-KBA533 - 用于 DA501EN/DA503EN/DA301/DA303 探頭
探頭線-KBA535 - 用于 HT400/DA590/DA590EN 探頭/鎧裝探頭線
探頭線-DA231 - 用于 DA301/DA303/DA501EN/DA503EN 探頭
探頭線-DA235 - 用于 DA305
探頭分為兩大類(lèi) - 接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測(cè)件有規(guī)則外形和相對(duì)光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場(chǎng)分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串?dāng)_擋板分開(kāi)
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測(cè)
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·通常用于手動(dòng)檢測(cè)
斜探頭
·晶片安裝在內(nèi)置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)探頭通過(guò)模式轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測(cè)，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類(lèi)，漿糊
·有時(shí)用于機(jī)械化或自動(dòng)化檢測(cè)
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測(cè)件
·通常用于機(jī)械化或者自動(dòng)化檢測(cè)
·耦合一致性好，檢測(cè)重復(fù)性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進(jìn)效果
應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)規(guī)則簡(jiǎn)單的大型工件檢測(cè)
•鍛件、坯料檢測(cè)
•板材、棒材、方型材
•容器、機(jī)器零部、外殼
•在高溫下用延遲塊檢測(cè)
功能特和優(yōu)勢(shì)
•歐式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 改善在不平坦或彎曲表面上的耦合
– 延長(zhǎng)探頭使用壽命。
– 適用于 DGS 缺陷定量方法
– 提供高溫延遲塊
– Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接器，標(biāo)準(zhǔn)探頭連接器安裝在側(cè)面，頂部接口可選
•美式型號(hào)具有可更換的軟保護(hù)膜：
– 保護(hù)膜可改善不平坦或彎曲表面上的耦合。
– 定期更換軟保護(hù)膜可無(wú)限期延長(zhǎng)探頭的使用壽命。
– 高溫延遲塊可在*高 400°F (200°C) 的表面上進(jìn)行檢測(cè)。
– BNC 連接器，側(cè)面或頂部安裝
主要特性
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收
•通過(guò)水延遲通道進(jìn)行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測(cè)試）
•不漏水的版本設(shè)計(jì)，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點(diǎn)聚焦方式增加了缺陷識(shí)別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對(duì)非常小的非均勻性具有非常高的探測(cè)能力。
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