德國EPK涂層測厚儀minitest系列 minitest720/730/740
Minitest720/730/740,已經(jīng)升級為: Minitest725/735/745
新的MINITEST 700涂層測厚儀產(chǎn)品線,加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的。
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯
詳細了解什么是SIDSP技術(shù)
有了新的SIDSP探頭,您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700系列涂層測厚儀可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項
MINITEST 700系列涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡單方便
MINITEST 700系列涂層測厚儀按照人體工學設(shè)計,外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列涂層測厚儀可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號都配有超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
預設(shè)選項節(jié)省您的時間和金錢
所有MINITEST 700系列涂層測厚儀的探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。為節(jié)省您的時間和金錢,儀器預設(shè)了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,兩點校準和三點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應銷售需要,MINITEST 700系列涂層測厚儀滿足各種標準:SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亞(AS 3894.3)、ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
優(yōu)點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件
德國EPK涂層測厚儀minitest系列 minitest720/730/740
主機型號 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個 |
統(tǒng)計值 | 讀值個數(shù)、zui小值、zui大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置) | ||
校準程序符合標準和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準 | ||
校準模式 | 出廠設(shè)置校準、零點校準、兩點校準、三點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報警提示超過極限 | ||
測量單位 | μm,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作溫度 | -10℃~60℃ | ||
存放溫度 | -20℃~70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標準 | DIN EN ISO1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||
體積 | 157mm x75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭
探頭特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~-2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm |
使用范圍 | 小工件,薄涂層 | 粗糙表面 | 標準探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) | |||||
精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑 (凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑 (凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) |