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日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：51更新時(shí)間：2025-02-22 11:18:45
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- 網(wǎng)址：
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。 除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。 用法 LCD ITO...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特殊長度
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
用法
LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass
TFT
SiN / a-Si / 玻璃
有機(jī)EL
有機(jī)EL / ITO / 玻璃
PDP
介電層/玻璃
核心特點(diǎn)：
超大基板全覆蓋：專為下一代尺寸玻璃基板設(shè)計(jì)（支持超長/超寬規(guī)格），可高效測量LCD、TFT、有機(jī)EL等大型面板，兼容PI、ITO、SiN、介電層等復(fù)雜膜層結(jié)構(gòu)。
納米級(jí)精度與秒級(jí)速度：采用分光干涉+AI算法技術(shù)，單點(diǎn)測量時(shí)間＜1秒，膜厚精度±0.1nm，光學(xué)常數(shù)（n/k）解析＜0.5%，滿足量產(chǎn)級(jí)質(zhì)量控制需求。
全場景適配性：從研發(fā)實(shí)驗(yàn)室到自動(dòng)化產(chǎn)線，支持在線（inline）集成，可定制XYZ多軸平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查。
高速量產(chǎn)優(yōu)化：每小時(shí)可檢測超3000點(diǎn)，支持多探頭并行測量，大幅提升玻璃基板（如G8/G10）產(chǎn)線效率，降低設(shè)備綜合成本（CoO）。
超薄與超厚膜通吃：量程覆蓋1nm至200μm，適用于OC（光學(xué)膠）、Resist（光刻膠）等軟膜與硬質(zhì)涂層的精準(zhǔn)厚度控制。
低維護(hù)：非接觸式測量設(shè)計(jì)，無探針損耗，長期使用穩(wěn)定性達(dá)99.8%，搭配遠(yuǎn)程診斷功能，減少停機(jī)風(fēng)險(xiǎn)。
日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
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