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冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱

閱讀：341 發(fā)布時間：2018-1-19

冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱 的詳細介紹

TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱

(Tow/Three-zone) Thermal Shock Test Chambers

*設(shè)備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui??；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設(shè)置短路保護，確保了設(shè)備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*設(shè)備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗
GJB 150.-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法方法107 溫度沖擊試驗

型號

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

標稱內(nèi)容積（升）

150

200

300

試驗方式

氣動風門切換2溫室或3溫室方式

性能

高溫室

預(yù)熱溫度范圍

＋60～＋200℃

升溫速率※1

＋60→＋200℃≤20分鐘

低溫室

預(yù)冷溫度范圍

－78－0℃

降溫速率※1

＋20→－75℃≤80分鐘

試驗室

溫度偏差

±2℃

溫度范圍

TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;

TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;

TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃

溫度恢復(fù)時間※2

5分鐘以內(nèi)

試樣擱架承載能力

30kg

試樣重量

7.5kg

10kg

內(nèi)部尺寸（mm）

500

600

750

850

400

500

600

400

500

600

800

外形尺寸（mm）※4

1460

1560

1710

1880

1840

1940

2040

1500

1600

1700

1900

※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。

※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

試驗規(guī)范

駐留溫度(℃)
(exposure temp.)

駐留溫度時間(Min)
(exposure time)

覆歸時間
(recovery time)

周期
或次數(shù)

試驗起
始點

備注

適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)

高溫

室溫

低溫

高溫/低溫

室溫

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

≧10min
≦15min

----

含駐留時間&
轉(zhuǎn)換時間≦15min

zui少
10次

低溫或
高溫

Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)

實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

----

+125

+15

◎

----

-10

+150

+15

◎

----

+150

+15

-65

◎

----

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)

+83

-25

+10

-55

28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以內(nèi)

5 cycle
25
50
100

低溫

Transfer time
不超過5 min

◎

-3

+125

-65

◎

----

-5

+125

-65

◎

----

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

室溫

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以3hr定義

手動轉(zhuǎn)
移時間
2～3Min

為駐留時間
之1/10

5 cycle
除非有
其它規(guī)格

低溫

Auto
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec

★

◎

----

IPC 2.6.7

+70

±2

----

15 Min

----

2 Min 以內(nèi)

100 cycle

高溫
(試驗結(jié)束
點在高溫)

Transfer time
不超過2 min

★

-0

-5

+85

-40

◎

-0

-5

+105

-55

◎

．

-0

-5

+105

-65

．

----

-0

-5

+105

．

----

-0

IPC 2.6.6

+85

-25

+10

-55

30 Min

10-15
Min

5 cycle

◎

-0

-5

+125

-5

-65

◎

----

-0

-5

Bellcore
GR-1221-CORE

+70

±2

----

≧10min
≦15min

----

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

◎

+80

±2

◎

JESD22
A104-A

+125

+10

-40

≦15min

含駐留時間
&轉(zhuǎn)換時間≦15min

抽10次
可接受;
1000次
合格

Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做

◎

-0

-10

+85

+10

-55

◎

．

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

◎

．

----

恒溫恒濕機輔助結(jié)構(gòu)

LED LM-80復(fù)疊式老化測試系統(tǒng)（半導(dǎo)體

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