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電感耦合等離子體質(zhì)譜儀氫氟酸試樣的直接分析

閱讀:187      發(fā)布時(shí)間:2025-4-2
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1. 前言 在半導(dǎo)體工藝中,氫氟酸(Hydrofluoric acid, HF)是在晶片清潔 和蝕刻工藝中所必需的化學(xué)品,并且根據(jù)所采用的工藝特性,需 要所含的無機(jī)雜質(zhì)含量低于ppt級(jí)別的超高純度產(chǎn)品。目前國(guó)內(nèi) 半導(dǎo)體工藝中使用的氫氟酸產(chǎn)品的濃度為49%,其無機(jī)成分雜質(zhì) 含量級(jí)別約為1ppt。在這種超高純無機(jī)成分分析中,應(yīng)用普遍的是電感耦合質(zhì)譜儀(Inductively Coupled  Plasma-Mass Spectrometry, ICP-MS),為了將高含量氫氟酸基質(zhì)的物理影響最小化,經(jīng)過3倍至5倍的稀釋過 程后,再進(jìn)行分析。然而,這種稀釋等預(yù)處理過程的應(yīng)用不可避免地帶來了污染問題。為此,需要配備昂貴的潔 凈室(10級(jí)以下)、管理預(yù)處理設(shè)備及容器等,但這會(huì)導(dǎo)致與控制污染相關(guān)的成本增加,還可能成為分析結(jié)果錯(cuò) 誤的主要原因。因此,為了得出穩(wěn)定、可靠的分析結(jié)果,最佳的方法是省略預(yù)處理等可能影響試樣中雜質(zhì)含量 的所有污染過程,直接分析 49%的氫氟酸本身。然而,直接分析49%原液狀態(tài)的氫氟酸需要解決諸多問題,例 如,將氫氟酸原液直接引入ICP-MS等離子體時(shí),目標(biāo)分析元素的電離率低下的問題;氫氟酸介質(zhì)不分解所致的 ICP-MS耐久度問題;以及大量氟成分可能引起的化學(xué)干擾問題等。此時(shí),珀金埃爾默公司的NexION 5000,多 重四極桿(Multi-Quadrupole, QQQQ)電感耦合質(zhì)譜儀的應(yīng)用可能是選擇,其采用基于選擇性化學(xué)反應(yīng)概 念并消除干擾為目的的UCT技術(shù) (通用池技術(shù),原DRC),在所有目標(biāo)分析元素的分析過程中允許使用熱等離子 體,從而同時(shí)且根本上解決質(zhì)量重疊所致的化學(xué)干擾(多原子干擾)及物理干擾問題。另外,如果引入可選擇性 去除氫氟酸介質(zhì)的附加裝置,即可使分析能力倍增。本應(yīng)用中使用珀金埃爾默的QQQQ ICP-MS(NexION 5000) 和基質(zhì)去除設(shè)備MRS (Matrix Removal System, MRS100),將氫氟酸中所含的44種元素作為研究對(duì)象,證明該 儀器的分析能力。


2. 材料與方法

2-1 分析儀器

本實(shí)驗(yàn)使用了珀金埃爾默NexION 5000 QQQQ-ICP-MS,其搭載了 UCT技術(shù)(專門適用于熱等離子體分析條件及消除化學(xué)干擾(質(zhì)譜 干擾))和多重四極桿(Multi-Quadrupole),適用于半導(dǎo)體工業(yè)中 超 痕 量 無 機(jī) 分 析 。試 樣 導(dǎo) 入 裝 置 使 用 了 珀 金 埃 爾 默 公 司 的 MRS(Matrix Removal System, MRS100),能夠選擇性地只去除無 機(jī)試樣中的介質(zhì),另外中心管(1.5mm)、采樣錐、截取錐均使用了 鉑材質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)品。


2-2 試劑和樣品

用于檢出限(DL, Detection Limit)和49%氫氟酸原液雜質(zhì)含量計(jì) 算的標(biāo)準(zhǔn)品的制備,利用珀金埃爾默半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室自制的18.27M Ω阻抗高純度超純水以及珀金埃爾默公司多元素校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)液 3, 4,  5 (10ug/ml)產(chǎn)品,最終稀釋成5, 10, 20, 40 ppt(pg/g)。此時(shí),在最 終濃度的標(biāo)準(zhǔn)曲線中,一些元素在超純水介質(zhì)中可能以不穩(wěn)定的 狀態(tài)存在,因此使用前制備成1ppb的中間液(1%硝酸基體)作為 標(biāo)準(zhǔn)使用液。所使用的氫氟酸(HF, 49%, Spec. <50ppt),采購(gòu)半導(dǎo) 體級(jí)產(chǎn)品后,在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)利用PFA(全氟烷氧基聚合物)材質(zhì)的蒸餾 裝置進(jìn)一步提純使用。


2-3 分析條件

鑒于49%原液狀態(tài)的氫氟酸試樣的特點(diǎn),本實(shí)驗(yàn)在熱等離子體條 件下,對(duì)所有目標(biāo)分析元素進(jìn)行分析,從而使氫氟酸對(duì)個(gè)別目標(biāo)分 析元素的物理干擾最小化。同時(shí),使氫氟酸分子結(jié)構(gòu)的分解大 ,盡可能減輕對(duì)ICP-MS硬件的損害。即,本應(yīng)用技術(shù)的開發(fā)過程中, 優(yōu)先考慮了盡可能將背景等效濃度降低至最小狀態(tài)、且熱 等離子體的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)的分析條件。為此,通過初步引入MRS并優(yōu)化 運(yùn)行條件,使氫氟酸介質(zhì)與目標(biāo)分析元素進(jìn)行分離,最小化氫氟酸 介質(zhì)所帶來的影響。另外,射頻功率設(shè)為1600W,等離子氣流量和 輔助氣流量分別設(shè)為最小流量,即15L/min和 0.8L/min,排除了氫 氟酸介質(zhì)所致的殘余影響。并且,僅在標(biāo)準(zhǔn)模式和NH3-DRC模式下 完成所有分析。


下列表1是此時(shí)應(yīng)用的NexION 5000 QQQQ-ICP-MS運(yùn)行條件。

1.png

利用四極桿型電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(Quadrupole ICP-MS)對(duì)半導(dǎo)體工藝中管理的氫氟酸內(nèi)所含的超痕量級(jí)別44種元素時(shí),常見的干擾 源來自于分析環(huán)境、試樣及氣體等,例如,氬氣、碳、氧及氟為主要干擾源,因此對(duì)于24Mg+ , 27Al+ , 39K+ , 40Ca+ , 48Ti+ , 51V+ , 52Cr+ , 55Mn+ , 56Fe+ , 59Co+ ,  58Ni+ , 63Cu+ , 64Zn+ , 75As+ , 89Sr+必須應(yīng)用DRC(動(dòng)態(tài)反應(yīng)池)。


下列表2是采用MRS技術(shù)和NH3-DRC技術(shù)的NexION 5000 ICP-MS的池運(yùn)行條件,以及個(gè)別元素的干擾離子。

2.png

3.png

應(yīng)用NH3 -DRC的個(gè)別元素中,受氬氣直接影響的鉀(39K+ , 38ArH+ )和鈣(40Ca+ , 40Ar+ )、錳(55Mn+ , 35ArF+ )及鐵(56Fe+ , 40Ar16O+ ),相比其他元素應(yīng)用 了更高流量的氨氣,易受氟和硅的影響的鎳(58Ni+ , 29Si2 + )、銅(63Cu+ , 28SiOF+ )、錳(55Mn+ , 35ArF+ )及鍶(88Sr+ , 19F+ 擴(kuò)散),相比其他反應(yīng)氣體應(yīng)用了 更高的RPq值。


3. 結(jié)果

49%氫氟酸原液等高介質(zhì)試樣的分析中,應(yīng)用冷等離子體等低能狀態(tài)的等離子體技術(shù)時(shí),可能引起諸多問題。適用于冷等離子體的元素一般 39K+ , 40Ca+ , 52Cr+ , 56Fe+ 等易受氬氣干擾的金屬,該技術(shù)通過較低的等離子體能量極度地控制氬氣電離效率,從而避免來自氬氣的干擾。此時(shí), 根據(jù)冷等離子體的特點(diǎn),低等離子體能量同時(shí)抑制目標(biāo)分析元素的離子化率,且冷等離子體的穩(wěn)定時(shí)間較長(zhǎng),另外未分解的高介質(zhì)試樣會(huì)對(duì) 錐、離子透鏡及反應(yīng)池設(shè)備迅速造成污染及腐蝕等,使分析的可信度急劇下降。為了解決這種問題,最直接的方法是在所有元素的分析過程 中只使用熱等離子體。然而,為了只使用熱等離子體,干擾消除技術(shù)的支持是不可少的。目前上市的四極桿型ICP-MS中,能夠?qū)崿F(xiàn)這一功能 的只有珀金埃爾默公司搭載UCT的設(shè)備。同時(shí),為了最小化直接分析49%氫氟酸原液時(shí),可能發(fā)生的氫氟酸介質(zhì)的影響,本實(shí)驗(yàn)中還采用了 珀金埃爾默公司開發(fā)的MRS(基質(zhì)去除系統(tǒng)),使ICP-MS的應(yīng)用能力倍增。 下列表3表示結(jié)合MRS與ICP-MS設(shè)備并優(yōu)化池氣體條件后,檢測(cè)了只應(yīng)用熱等離子體的個(gè)別元素的檢出限值,以及49%氫氟酸中所含的雜 質(zhì)含量。


表3所示的結(jié)果,是在熱等離子體條件下僅利用標(biāo)準(zhǔn)模式(無氣體)和NH3/O2-DRC模式進(jìn)行同時(shí)分析所得的。和一些競(jìng)爭(zhēng)公司不能使用UCT 技術(shù),而不得不使用動(dòng)能歧視模式(碰撞模式KED)、冷等離子體無氣體模式、反應(yīng)模式、個(gè)別的質(zhì)量轉(zhuǎn)移模式等繁雜多樣的分析模式相比,上 述方式的優(yōu)勢(shì)明顯。 本研究結(jié)果表明,搭載MRS及UCT(DRC)應(yīng)用技術(shù)的NexION 5000,對(duì)49%原液狀態(tài)的氫氟酸等高介質(zhì)試樣進(jìn)行分析時(shí),與其他競(jìng)爭(zhēng)公司的 產(chǎn)品不同,通過應(yīng)用簡(jiǎn)單的分析條件,顯著縮短試樣分析時(shí)間的同時(shí),還能實(shí)現(xiàn)更低水平的DL和BEC。

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