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S2 PUMA分析含Pt催化轉(zhuǎn)化器
簡(jiǎn)介
愈加嚴(yán)格的環(huán)境法律和全球日益增長(zhǎng)的汽車(chē)消耗大大增加了催化轉(zhuǎn)化器的需求。
此外,鉑族金屬對(duì)催化轉(zhuǎn)化器至關(guān)重要,隨著它市場(chǎng)價(jià)格的不斷攀升,對(duì)其回收已成強(qiáng)制性要求。鉑(見(jiàn) 圖 1)是催化轉(zhuǎn)化器中最重要的金屬之一,雖然它的產(chǎn)量在持續(xù)增長(zhǎng),但是價(jià)格卻還是一直走高!在2010年,從使用過(guò)的催化轉(zhuǎn)化器中回收的鉑族金屬的總價(jià)值達(dá)到30億美元也就不足為奇了。
圖1: 精密天平上的金屬鉑
然而,由于不同類(lèi)型的催化轉(zhuǎn)化器含有不同含量的貴金屬,所以可靠的元素分析對(duì)此高利潤(rùn)行業(yè)顯得至關(guān)重要。本報(bào)告顯示了S2 PUMA對(duì)鉑族金屬中的 Pt, Pd, Rh等金屬的分析能力,監(jiān)控其含量,從而控制催化轉(zhuǎn)化器回收及再制造過(guò)程中的質(zhì)量 (見(jiàn)圖 2)。
圖2: 常見(jiàn)的涂有PGE薄膜的蜂窩柱狀催化轉(zhuǎn)化器
S2 PUMA:計(jì)數(shù)快速可靠!
S2 PUMA是高性能的臺(tái)式能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀(EDXRF),有著廣泛的應(yīng)用。為高要求的工業(yè)用戶(hù)設(shè)計(jì),他們優(yōu)先考慮堅(jiān)固可靠的儀器,可以在苛刻的條件下提供準(zhǔn)確的結(jié)果。配備的XY自動(dòng)進(jìn)樣器可以對(duì)大量的過(guò)程樣品進(jìn)行無(wú)人值守分析;其優(yōu)化的HighSense™光路和探測(cè)器可提供的精確度,準(zhǔn)確度和高分辨率。專(zhuān)用儀器保護(hù)系統(tǒng)SampleCare™為您的工業(yè)實(shí)驗(yàn)室提供了理想的配置:它包括多重保護(hù)措施,來(lái)幫助X射線(xiàn)管和探測(cè)器頭部抵御來(lái)自固體或者液體樣品的污染。
該儀器人性化的TouchControl™界面,可獨(dú)立進(jìn)行常規(guī)操作,不需要任何PC外設(shè),完全適合工業(yè)環(huán)境。強(qiáng)大的用戶(hù)賬戶(hù)控制和儀器軟件 SPECTRA.ELEMENTS以及堅(jiān)固的設(shè)計(jì)保證了儀器能夠長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。
校準(zhǔn)和測(cè)試細(xì)節(jié)
本文采用15個(gè)標(biāo)樣,由8g樣品和2g硼酸組成(見(jiàn)圖5)。在300kN的壓力下保壓20秒,制備成壓片樣品。在真空下測(cè)試這些穩(wěn)定的壓片樣品。表 1給出了Pt的標(biāo)準(zhǔn)曲線(xiàn)。
圖3: DustShield™ 探測(cè)器保護(hù)帽是 SampleCare™ 系統(tǒng)的一部分,可有效防止探測(cè)器頭部被樣品污染
表1: Pt元素校準(zhǔn)細(xì)節(jié)
儀器軟件包SPECTRA.ELEMENTS軟件可自動(dòng)選線(xiàn),為每種元素的測(cè)試提供條件,可根據(jù)需求選用、調(diào)整或刪除。表2列出了測(cè)試條件。
表2: 測(cè)試條件
分析結(jié)果
為了驗(yàn)證S2 PUMA的分析精度,選擇其中一個(gè)樣品測(cè)量10次。每次分析后,樣品從樣品倉(cāng)中取出再放入。表 3列出了重復(fù)性測(cè)試的具體詳情。所有被分析元素均獲得良好的精度,所討論的PGE顯示出很好的重復(fù)性。Pt的精度如圖 4所示。
圖4: 重復(fù)試驗(yàn)所得Pt精密度良好(見(jiàn)表3)
紅線(xiàn)表示3σ 置信區(qū)間
表3: 催化轉(zhuǎn)化器PGE涂層整體樣品的重復(fù)性結(jié)果
圖5: 原料和制備成的壓片樣品
結(jié)論
S2 PUMA在分析性能上展現(xiàn)了非凡的儀器穩(wěn)定性--的精密度和準(zhǔn)確度!特別是針對(duì)像Pt這種每克材料都非常昂貴的情況下,將直接為客戶(hù)節(jié)約大量的的成本。
此外,S2 PUMA具有許多專(zhuān)為工業(yè)用戶(hù)設(shè)計(jì)的功能,如XY軸自動(dòng)進(jìn)樣器、觸屏控制和人性化的光譜儀器控制軟件。這使得S2 PUMA成為您可以依賴(lài)的分析伙伴!
以上文章來(lái)源于布魯克X射線(xiàn)部門(mén),作者:Jung-Won Kim, Bruker Korea Co. Ltd. Matthias Lindhuber, Bruker AXS Germany