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Microtrac Inc.新一代納米/Zeta電位分析儀問世
美國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，前身為Leeds & Northrup 研究所，近半個(gè)世紀(jì)以來，一直著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其先進(jìn)的激光粒度分析技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于石油，石化，水泥，磨料，冶金，制藥，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)*的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器。
美國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出一代Zetatrac微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場(chǎng)，無需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。
以研究開發(fā)見長(zhǎng)的美國(guó)麥奇克有限公司，幾經(jīng)坎坷，在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中始終立于不敗之地。尤其是在日本市場(chǎng)，憑借其*的性價(jià)比，各行業(yè)用戶總數(shù)高達(dá)2,500多臺(tái)，成為日本粉體工業(yè)協(xié)會(huì)的*品牌。自2004年底進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)以來，作為專業(yè)激光粒度分析儀的者，采用的光散射/衍射技術(shù)，全自動(dòng)化的設(shè)計(jì)帶來的靈敏度和重復(fù)性，在中國(guó)的石油石化，環(huán)?？刂?，材料科學(xué)，國(guó)防，航空航天，礦物加工等領(lǐng)域享有很高的聲望。