美科研人員:氧化鎵有望應(yīng)用于高頻通信系統(tǒng)等領(lǐng)域
導讀
近日,在《應(yīng)用物理快報》雜志上發(fā)表的論文中,新實驗展示了一種寬禁帶半導體材料氧化鎵(Ga2O3)被設(shè)計到一種納米結(jié)構(gòu)中,從而使得電子在晶體結(jié)構(gòu)中移動得更快,因此Ga2O3有望成為一種用于高頻通信系統(tǒng)和節(jié)能電力電子器件的理想材料。
背景
寬禁帶半導體材料(禁帶寬度大于2.2eV)被稱為第三代半導體材料,主要包括金剛石、SiC、GaN等。與代、第二代半導體材料相比,第三代半導體材料具有禁帶寬度大,電子漂移飽和速度高、介電常數(shù)小、導電性能好的特點。
新一代的節(jié)能電力電子器件、高頻通信系統(tǒng)、固態(tài)照明系統(tǒng)都依賴于寬禁帶半導體材料。基于這些材料的電路比傳統(tǒng)的硅基電路,具有更高的功率密度、更低的功耗。舉個典型的例子,這些材料帶來了LED照明系統(tǒng)的革命,因此在2014年贏得了諾貝爾物理獎。
創(chuàng)新
在美國物理聯(lián)合會出版的《應(yīng)用物理快報(Applied Physics Letters)》雜志上發(fā)表的論文中,新實驗展示了一種寬禁帶半導體材料氧化鎵(Ga2O3)被設(shè)計到一種納米結(jié)構(gòu)中,從而使得電子在晶體結(jié)構(gòu)中移動得更快。因為電子如此容易地流動,所以Ga2O3有望成為一種用于高頻通信系統(tǒng)和節(jié)能電力電子器件的理想材料。
(圖片來源:Choong Hee Lee 和Yuewei Zhang)
研究的領(lǐng)dao者、美國俄亥俄州立大學的Siddharth Rajan 表示:“氧化鎵帶來的晶體管將超越現(xiàn)有技術(shù)。”
技術(shù)
因為Ga2O3是帶隙(電子由價帶被激發(fā)到導帶上所需要的能量)大的寬禁帶半導體材料之一,而這些寬禁帶半導體材料的開發(fā)是為了取代硅,特別是用于高功率設(shè)備和高頻率設(shè)備。Ga2O3在眾多的寬禁帶半導體器件中也顯得很*,它可以直接通過熔融形式來制造,從而可以用于大規(guī)模制造高質(zhì)量的晶體。
為了在電子器件中應(yīng)用,材料中的電子必須能夠在電場中輕易地移動,這種特性稱為“高電子遷移率”。Rajan 表示:“這是任何器件的關(guān)鍵參數(shù)。”一般來說,為了讓半導體中的電子更加容易地移動,材料必須摻雜其他成分。然而,問題是摻雜物也會散射電子,從而限制了材料中電子的移動能力。
為了解決這一問題,研究人員采用了一種名為“調(diào)制摻雜”(modulation doping)的技術(shù)。1979年,Takashi Mimura 在設(shè)計砷化鎵高電子遷移率晶體管時開發(fā)出這項技術(shù),他也因此在2017年贏得的京都獎。雖然現(xiàn)在這已經(jīng)是一種用于實現(xiàn)高電子遷移率的普遍技術(shù),但是在Ga2O3上的應(yīng)用仍然是新的。
在研究中,研究人員創(chuàng)造出一種半導體異質(zhì)結(jié)構(gòu),在Ga2O3 以其鋁合金物鋁鎵氧化物之間,創(chuàng)造出原子級的界面。Ga2O3與鋁鎵氧化物具有相同的晶體結(jié)構(gòu),但是卻具有不同的帶隙。在離界面幾納米的位置,一片僅有幾個原子厚度的電子摻雜物被嵌入在鋁鎵氧化物中。摻雜的電子轉(zhuǎn)移到Ga2O3中,形成了二維電子氣體。但是,由于現(xiàn)在電子也與鋁鎵氧化物中的摻雜物分離達幾納米(因為調(diào)制摻雜這個詞),所以它們更少地發(fā)生散射并保持高的遷移率。
研究人員采用這項技術(shù),實現(xiàn)了電子遷移率記錄。同時,他們也能觀察到一種量子現(xiàn)象,即“Shubnikov-de Haas oscillation”。在這種現(xiàn)象中,增加外部磁場的強度,會引起材料的電阻發(fā)生振蕩。這些振蕩鞏固了高遷移率二維電子氣體的形成,并使得研究人員可測量關(guān)鍵的材料特性。
(圖片來源:參考資料【2】)
價值
Rajan 解釋道,這種調(diào)制摻雜的結(jié)構(gòu)將帶來新型量子結(jié)構(gòu)以及充分利用Ga2O3潛力的電子器件。
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