手機(jī)版
化工儀器網(wǎng)手機(jī)版
化工儀器網(wǎng)小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關(guān)注視頻號
全反射X熒光光譜技術(shù)（TXRF）基于X熒光能譜法（EDXRF），但與能譜分析有著明顯的區(qū)別：傳統(tǒng)EDXRF采用原級X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，盡可能上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。
與原子吸收及發(fā)射光譜方法相比，TXRF具有如下優(yōu)勢：
1、無需復(fù)雜的樣品前處理過程，原子吸收或ICP的樣品前處理占據(jù)了整個分析過程的絕大部分時間，通常耗時幾個小時甚至幾天，同時TXRF能有效避免前處理引入的誤差；
2、對于易揮發(fā)元素有良好檢測效果，如Hg/As/Se在消解過程中會損失，Cl/Br/I等ICP檢測效果較差；
3、檢測元素種類更多，可達(dá)80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到U；
4、檢出限更低，多數(shù)元素在ppt級，尤其Pb/Rh等元素，而原子吸收或ICP為ppb級。
與ICP-MS方法相比，兩者檢出限基本持平，但TXRF可以無視ICP-MS如下痛點(diǎn)：
1、ICP-MS的耐鹽度較差，分析高鹽分樣品時檢出限差（S/Ca/Fe/K/Se等），同時酸基體對于測量影響顯著，如鹽酸、高氯酸、磷酸、硫酸會引起質(zhì)譜干擾；
2、ICP-MS根據(jù)質(zhì)核比檢測元素，當(dāng)存在同質(zhì)異位素時，很難的完成檢測；
3、ICP-MS需要超凈實(shí)驗(yàn)室，造價昂貴；
4、ICP-MS運(yùn)行成本高，取樣錐、渦輪泵、檢測器為易損件。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源：化工儀器網(wǎng)”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品，未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的，應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用，并注明“來源：化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者，本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源（非化工儀器網(wǎng)）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé)，不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時，必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源，并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系，否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
采購中心