超聲波檢測(cè)中聲速和探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)是因?yàn)闋顟B(tài)行所顯示參數(shù)的計(jì)算都是與聲速和探頭零點(diǎn)相關(guān)，所以在探傷前請(qǐng)務(wù)必校準(zhǔn)；聲程校準(zhǔn)是為了使屏幕上顯示適當(dāng)聲程范圍內(nèi)的波形，以便更好地判斷、評(píng)價(jià)缺陷。

斜探頭校準(zhǔn)

1、校準(zhǔn)入射點(diǎn)（探頭前沿）：用IIW試塊（又稱荷蘭試塊）或CSK－IA試塊測(cè)斜探頭零點(diǎn)，將儀器聲速調(diào)節(jié)為3230m/s，顯示范圍為150mm，然后開始測(cè)試，用戶如圖將探頭放在試塊上并移動(dòng)，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達(dá)到ZHUI高，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離，此值即為該探頭的前沿值，R100mm弧圓心對(duì)應(yīng)探頭上的位置即為探頭入射點(diǎn)。 斜探頭校準(zhǔn)通常需要以下步驟：1、校準(zhǔn)入射點(diǎn)（探頭前沿）；2、校準(zhǔn)探頭角度（K值）；3、校準(zhǔn)材料聲速；4校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)。

2、校準(zhǔn)探頭角度（K值）：用角度值標(biāo)定的探頭可用IIW試塊校準(zhǔn)，如果是用K值標(biāo)定的探頭，可用CSK－IA試塊校準(zhǔn)。這兩種試塊上有角度或K值的標(biāo)尺，按探頭標(biāo)稱值選擇合適的標(biāo)尺（右圖所示，在IIW試塊上側(cè)可校準(zhǔn)60－76度的探頭，下側(cè)可校準(zhǔn)74－80度的探頭，CSK-IA試塊上側(cè)可校準(zhǔn)K2.0、K2.5、K3.0的探頭，下側(cè)可校準(zhǔn)K1.0、K1.5的探頭。請(qǐng)按試塊上的標(biāo)定值選擇用合適的校準(zhǔn)試塊及校準(zhǔn)方法）。如圖放置探頭，左右移動(dòng)使得反射體回波達(dá)到ZHUI高，此時(shí)入射點(diǎn)對(duì)應(yīng)的刻度就是探頭的角度或K值。

3、校準(zhǔn)材料聲速按照1中所述找到R100mm的ZHUI高反射波，調(diào)節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門方式為雙閘門，調(diào)節(jié)A閘門與一次回波相交，調(diào)節(jié)B閘門與二次回波相交，調(diào)節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值（S）為100，此時(shí)得到的聲速值即為該材料的實(shí)際聲速值。

4、校準(zhǔn)探頭零點(diǎn)保持上面的測(cè)量狀態(tài)，將閘門方式改為正或負(fù)，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)使得狀態(tài)行中聲程測(cè)量值（S）再次為100，此時(shí)得到的探頭零點(diǎn)值即為該探頭的零點(diǎn)值。

斜探頭的校準(zhǔn)方法有很多，并不*拘泥于用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行校準(zhǔn)，也可以用已知深度的小孔進(jìn)行校準(zhǔn)，理論上參考反射體越小，校準(zhǔn)的精度越高，但校準(zhǔn)的難度也相應(yīng)的加大。用小孔校準(zhǔn)時(shí)可通過測(cè)量小孔的深度和水平位置，計(jì)算斜率來校準(zhǔn)角度，并利用測(cè)得的深度或水平位置值校準(zhǔn)聲速和探頭零點(diǎn)。