1、 局部放電測量法的理論分析 　　

局部放電測量方法分為電測法和非電測法兩大類。電測法應用較多的是脈沖電流法和無線電干擾電壓法。目前，電測法已廣泛用于局部放電的定量測量。 脈沖電流法的測試原理是試品產生一次局部放電，在其兩端就會產生一個瞬時的電壓變化，便攜式局部放電測試儀此時在被試品、耦合電容和檢測阻抗組成的回路中產生一脈沖電流。脈沖電流經過檢測阻抗會在其兩端長生一脈沖電壓，將此脈沖電壓進行采集、放大、顯示等處理，就可產生拒不放點的一些基本量，尤其是局部放電量。 　

　2、 局部放電測量儀常用的名詞術語 　　

（1） 局部放電 　局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構成整個絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內部放電（在介質內部）、沿面放電（在介質表面）、 電暈放電（在電極）。 　　（2） 電荷量q 　在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。 　　

（3）視在放電量校準器 　視在放電量校準器是一標準電量發(fā)生器，試驗前它以輸出某固定電量加之試品兩端，開關柜局部放電檢測儀模擬該試品在此電量下放電時局部放電測試儀的響應，此時調整 刻度系數(shù)，確定 局部放電檢測儀的量程，以便在試驗時測量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時以標準電量發(fā)生器比較后間接測出，而非直接測出，故此放電量稱為“視在放電量”。 校正電量發(fā)生器是測量局部放電時*的儀器，它的性能參數(shù)直接關系到測試結果的準確性。視在放電量校準器由校準脈沖電壓發(fā)生器和校準電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時間、衰減時間、 內阻、脈沖峰值、校準電容值等。 校準脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時間為從0.1U0到0.9U0的時間，衰減時間定義為從峰值下降到0.1U0的時間。 　　

（4）檢測阻抗 檢測阻抗是拾取檢測信號的裝置，在使用中，應根據不同的測試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測阻抗，以提高 局部放電測量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。 　　

（5）時間窗(門單元) 時間窗是為防止大于 局部放電的干擾信號進入峰值檢波電路而設計的一種電路裝置。因在實際試驗時，尤其是在現(xiàn)場做試驗時，不可避免地會引入一些干擾，所以，時間窗的使用更顯得重要。 時間窗的工作原理是把橢圓掃描時基分成導通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導通(加亮區(qū)域)，干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域)，此時儀表 讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值，而干擾則不論大小，皆不會影響放電脈沖數(shù)值。若此時兩個時間窗同時關閉，則儀表讀數(shù)為整個橢圓上脈沖之峰值。