什么是多模光纖環(huán)形磁通？

環(huán)形通量 (EF) 是多模光纖纖芯內(nèi)的總光功率與在特定半徑處離開光纖的光功率量的比值，在幾個不同的半徑處測量以確定光功率在多模光纖纖芯內(nèi)的分布情況，并根據(jù)纖維填充過度和填充不足的位置設(shè)置限制。

換句話說，EF 是一種定義發(fā)射器的發(fā)射條件是否可以接受（光纖既不填充也未填充不足）的方法。

從測試和認(rèn)證光纖電纜的技術(shù)人員的角度來看，上述定義只是學(xué)術(shù)性的，因為 EF 不是這里測量的內(nèi)容。

如果環(huán)繞磁通不是現(xiàn)場測量，它有什么用途？

任何測量的目標(biāo)都是最大限度地減少測量中的不確定性或誤差。通過最大限度地減少測量誤差，提高了精度。

在涉及 EF 的情況下，通過設(shè)置填充上限和下限的位置將不確定性降至低。因此，如果要求技術(shù)人員根據(jù) EF 標(biāo)準(zhǔn)測試鏈路，則技術(shù)人員必須確保遵循符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的測試方法。

不幸的是，由于不同的多模測試源和參考電纜之間存在差異，當(dāng)前的參考方法（例如繞線）無法*確保 EF 合規(guī)性。

如何確?！碍h(huán)形通量合規(guī)性”？

因此，符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的測試方法必須有一種方法來控制發(fā)射條件本身，以便無論使用什么測試源和/或參考電纜，退出多模參考電纜的輸出發(fā)射都是一致的。

目前，可以通過幾種不同的方式實現(xiàn) EF 合規(guī)性。

第一種方法需要兩個匹配的部件來確保 EF 合規(guī)性：一個專門設(shè)計的光源部分控制模態(tài)輸出，以及一個特殊的匹配電纜，完成 EF 合規(guī)性。這種方法的問題在于，無論是信號源還是電纜本身都不能確保 EF 合規(guī)性，并且它們無法與其他信號源和電纜匹配。

到目前為止，最靈活的方法是使用稱為模式控制器的特殊參考電纜（如右圖所示）。模式控制器包括一個特殊的內(nèi)嵌模塊，可確保輸出連接器處的發(fā)射模式一致，無論使用何種多模光源。

雖然模式控制器電纜相對昂貴，但它們是使任何 OWL 多模測試套件符合 EF 標(biāo)準(zhǔn)的可行選擇。

（此處顯示的是 Arden Photonics ModCon 模式控制器）

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