E+H物位計(jì)的工藝特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)：

　　1.物料自然堆積會(huì)產(chǎn)生堆積傾斜，所以固體物料的料面是不平整的，很難明確料位的準(zhǔn)確高度;物料進(jìn)出時(shí)，存在滯留區(qū)，影響料位位置點(diǎn)的測(cè)量。

　　2.料斗或儲(chǔ)倉(cāng)中，固體物料內(nèi)部易存在大的孔隙，形成拱橋。粉料內(nèi)部易存在小的間隙。前者影響對(duì)物料儲(chǔ)量的計(jì)算，而后者則在振動(dòng)或溫度、壓力變化時(shí)使物位也隨之變化。

　　界面測(cè)量中常出現(xiàn)的問題是界面不明確，渾濁或泡沫的存在會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。此外，容器內(nèi)攪拌、管道和加熱等設(shè)備的存在也會(huì)對(duì)物位檢測(cè)帶來(lái)一定的影響，特別是像雷達(dá)波、超聲波這些依賴回波信號(hào)測(cè)量的物位儀表。

　　折疊　　由于不同的工業(yè)生產(chǎn)過程的特點(diǎn)不同，所以料位計(jì)需針對(duì)不同的工藝條件來(lái)確定。為了能夠更明確地分析物位儀表，料位儀表的工作原理、特點(diǎn)和應(yīng)用環(huán)境，必須對(duì)物位測(cè)量的工藝要求進(jìn)行明確分析。

　　首先我們來(lái)分析液位測(cè)量的工藝特點(diǎn):

　　1.液面是規(guī)則表面。但當(dāng)液體流進(jìn)、流出時(shí)容易產(chǎn)生波動(dòng)或生產(chǎn)過程中出現(xiàn)起泡、沸騰等變化時(shí)同樣也會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。

　　2.容器內(nèi)發(fā)生有液體各處密度、黏度或溫度等物理量不均勻的現(xiàn)象。

　　3.容器內(nèi)發(fā)生有高壓、高溫、液體黏度過大、大量臟污雜質(zhì)、懸浮物等。

　　固體物料的物理、化學(xué)性質(zhì)較復(fù)雜，如有顆粒狀的、也有粉末狀的，并且有些介質(zhì)為大小不均勻的顆粒;固體物料的含水量變化、溫度等也是不均勻的變化;料倉(cāng)振動(dòng)、料倉(cāng)形狀不規(guī)則等。

E+H物位計(jì)的工藝特點(diǎn)及優(yōu)缺點(diǎn)：

　　常見料位計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)如下:

　　阻旋式料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):較可靠;

　　局限:不耐用。

　　電容式料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):較耐用;

　　局限:可靠性較差。

　　永磁式料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):可靠、靈敏、耐用;

　　局限:安裝時(shí)需垂直。

　　超聲波物位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):非接觸。

　　局限:粉塵影響/凹凸面影響/噪音非接觸式;

　　雷達(dá)料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):非接觸。

　　局限:介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響;

　　推薦:采用高發(fā)射頻率的，四線制的雷達(dá)

　　導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):對(duì)某個(gè)點(diǎn)的測(cè)量。

　　局限:介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響;

　　激光物位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):非接觸

　　局限:粉塵影響/凹凸面影響

　　射頻導(dǎo)納料位計(jì)(電容式料位計(jì))

　　優(yōu)點(diǎn):點(diǎn)接觸

　　局限:介電常數(shù)有要求/時(shí)漂/溫漂/掛料/拉力;

　　推薦:建議采用進(jìn)口的產(chǎn)品

　　重錘式料位計(jì):分纜式及帶式兩種

　　優(yōu)點(diǎn):直接測(cè)量/手動(dòng)控制

　　局限:傳統(tǒng)的纜式重錘容易發(fā)生斷錘/埋錘/亂繩

　　推薦:帶式重錘

　　射線式料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):非接觸、穩(wěn)定

　　局限:有污染/價(jià)格高

　　稱重式料位計(jì)

　　優(yōu)點(diǎn):可以測(cè)量質(zhì)量/體積

　　局限:抗震問題/物料面狀況不知/價(jià)格高