本文用x射線衍射法測定了鎂合金樣品的殘余應(yīng)力。
問題
當(dāng)材料晶粒尺寸較大或紋理較多時(shí),傳統(tǒng)的XRD殘余應(yīng)力測量被推到了極限。通過使用耗時(shí)的傾斜和旋轉(zhuǎn)振蕩來獲得給定傾斜角度的更平均的峰值數(shù)據(jù)集,可以改善結(jié)果。然而,客戶需要一個(gè)更有效的解決方案來測量鎂合金樣品上的殘余應(yīng)力,具有挑戰(zhàn)性的衍射峰結(jié)果。
測試方法
測量使用了Xstress G3殘余應(yīng)力分析儀和帶有雙探測器(Hamamatsu和Mythen)的Xstress DR45殘余應(yīng)力分析儀進(jìn)行,DR45具有2D面探測器。在整個(gè)測量過程中使用了3毫米準(zhǔn)直儀。在一維探測器測量中,同時(shí)使用了傾斜振蕩和旋轉(zhuǎn)振蕩。沒有它們,就無法獲得衍射數(shù)據(jù),而二維測量只需要傾斜振蕩。
無振蕩的一維探測器峰值數(shù)據(jù)。
圖1。無振蕩的一維探測器峰值數(shù)據(jù)。
下面是使用DR45測量鎂樣品。
圖2。用DR45測定鎂樣品。
結(jié)果
2D探測器的原始數(shù)據(jù)顯示Debye-Scherrer衍射環(huán)中有明顯的不連續(xù)(圖3),這解釋了為什么在1D探測器測量中需要使用旋轉(zhuǎn)和傾斜振蕩。二維探測器數(shù)據(jù)由沿衍射環(huán)的強(qiáng)度積分計(jì)算,只需要傾斜振蕩就可以獲得足夠的數(shù)據(jù)。
來自Xstress DR45中二維探測器的探測器數(shù)據(jù)。
圖3。DR45中二維探測器的探測器數(shù)據(jù)。
1D探測器的總測量時(shí)間為1h 49min。使用Mythen探測器,曝光時(shí)間可以從150s減少到30s,但由于所有必要的振蕩運(yùn)動,總測量時(shí)間只減少了35%。使用2D探測器的DR45在3分鐘內(nèi)完成了測量(表1)。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。