德國馬爾Mahr6851517 高精度探針的設計

非常細間距的測試探針總是用于接觸非常近的測試點，支腳或焊盤在BGA芯片或連接器上印刷或焊接的距離非常小，標準和大型測試探針無法觸及。這些細間距探頭通常在沒有任何插座的情況下固定，可以減少足夠的間距空間。細間距彈簧針系列半導體探頭由高精度和罕見的材料，G4桶和具有大電流容量的鈀合金組成。這些特殊的測試探針為您帶來。

· 高電流測試能力

· 高頻率

· 高速傳輸

· 夾層組裝夾具或插座設計

· 高精度接觸能力

· 減少材料浪費

· 穩(wěn)定的接觸，經久耐用

晶圓測試探針是晶圓測試行業(yè)中重要的一部分，它可以提供準確、可靠的測試數據。晶圓測試探針是由多種材料制成的，它們可以檢測晶圓的接觸電阻，測量晶圓的電阻和電容，檢測晶圓的電容和電阻，并可以測量晶圓的電壓和電流。此外，晶圓測試探針還可以檢測晶圓的電子器件參數，如電容、電阻、電壓、功率、溫度等參數，因此可以檢測出晶圓的缺陷，從而保證晶圓的質量。

晶圓測試探針具有高精度、快速響應、良好的穩(wěn)定性、可靠性和可重復性等優(yōu)點，因此在晶圓測試行業(yè)中得到了廣泛的應用。晶圓測試探針可以提供準確、可靠的測試數據，可以幫助晶圓廠家確保晶圓的質量，為晶圓制造行業(yè)帶來更多的商機。

此外，晶圓測試探針還有一些其他優(yōu)勢，如靈活性、易于操作、低成本等，可以為晶圓測試行業(yè)提供更多的便利。因此，晶圓測試探針是晶圓測試行業(yè)中的一部分，它可以為晶圓制造行業(yè)帶來更多的商機。