壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件的超聲波探傷

1.主題內(nèi)容與適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀所進(jìn)行的探傷方法和缺陷等級分類。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件（以下簡稱“工件”）和其他類似部件的超聲波探傷。

2.術(shù)語

2.1 透聲性

超聲縱波垂直入射到測試面與底面平行的無缺陷工件時(shí)，聲波在其中往返一次所引起的聲壓降，單位為分貝(db)。

3.探傷人員

壓縮機(jī)球墨鑄鐵零件探傷應(yīng)由具有一基礎(chǔ)知識和球墨鑄鐵件探傷經(jīng)驗(yàn)，并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書者擔(dān)任。

4.探傷器材

4.1 探傷儀

4.1.1 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率范圍應(yīng)在1~5MHz之間。

4.1.2 儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。

4.1.3 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)符合ZB Y230的有關(guān)規(guī)定。

4.2 探頭

4.2.1 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率為1~5MHz，頻率誤差為±10%。

4.2.2 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm^２，K值一般取1~3。

4.2.3 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。

4.3 儀器系統(tǒng)的性能

儀器系統(tǒng)的靈敏度余量和分辨力應(yīng)按照ZB J04 001的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行測試。

4.3.1 在工作頻率下，縱波直探頭的靈敏度余量不得低于30dB，橫波斜探頭的靈敏度余量按附錄A（補(bǔ)充件）A1.2條的規(guī)定。

4.3.2 在工作頻率下，縱波直探頭的分辨力不得低于20dB，橫波斜探頭的分辨力不得低于15dB。

4.4 試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊用碳鋼或低合金鋼鍛件材料制作，不允許存在大于等于φ2mm平底孔當(dāng)量的缺陷。

4.4.1 縱波直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

4.4.1.1 工件探測距離大于等于1.6倍近場區(qū)，應(yīng)采用縱波直探頭。

4.4.2縱波雙晶直探頭采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊

4.4.2.1 工件探測距離小于1.6倍近場區(qū)，應(yīng)采用縱波雙晶直探頭。

4.4.3 橫波斜探頭探傷采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸應(yīng)按附錄A中A1.3條及圖A1的規(guī)定。

4.4.4 探傷面是曲面時(shí)，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或接近(0.7~1.1倍)的對比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖3及表1。

4.5耦合劑

可采用機(jī)油、甘油、油脂等透聲性能好，且不損害工件的耦合劑。

5.探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

5.1探傷原則上應(yīng)安排在最終熱處理后進(jìn)行，若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后，仍應(yīng)對其進(jìn)行盡可能的探傷。

5.2工件應(yīng)在外觀檢查合格后，方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲檢測的物質(zhì)都應(yīng)予以清除。

5.3探傷面的表面粗糙度值應(yīng)為Ra3.2μm。

6.探傷方法

工件超聲探傷以縱波直探頭和縱波雙晶直探頭為主要探傷方法。如因受工件形狀和缺陷方向的限制，無法單獨(dú)用縱波探傷進(jìn)行有效的檢測，經(jīng)供需雙方協(xié)商同意，可采用附錄A規(guī)定的橫波檢驗(yàn)方法。

6.1探測方向

6.1.1原則上應(yīng)從探測面上兩相互垂直的方向進(jìn)行，并應(yīng)盡量掃查到工件的整個(gè)體積。

6.1.2主要工件的探測方向如圖4所示。

6.2掃查

6.2.1 應(yīng)對工件整個(gè)探測面進(jìn)行全面連續(xù)掃查。相鄰兩次掃查其相互重疊部分約為探頭晶片直徑的15%。

6.2.2 掃查時(shí)，探頭移動速度不得大于150mm/s。

6.2.3因工件幾何形狀限制而掃查不到的區(qū)域，應(yīng)在探傷報(bào)告中予以注明。

6.3工件透聲性的測定

將縱波直探頭與工件上探測面和底面平行而且無缺陷的部位耦合接觸，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度達(dá)到滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)。再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波的幅度達(dá)到滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為該測量點(diǎn)的透聲性。測量點(diǎn)不得少于三點(diǎn)，以其平均值表示該區(qū)域的透聲性。

6.4探傷靈敏度的確定

6.4.1波直探頭探傷靈敏度的調(diào)整

首先，將工件與探測距離等于或工件厚度的標(biāo)準(zhǔn)試塊相比較，求出透聲性補(bǔ)償值和表面粗糙度補(bǔ)償值。然后在該試塊上測試，使其φ3mm平底孔的回波幅度達(dá)到滿刻度的10%~20%，不改變儀器的參數(shù)，對探測距離較小的一系列試塊逐一測試，測出其φ3mm平底孔回波的最高點(diǎn)，繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)即可建立距離－幅度曲線。也可A、V、G計(jì)算法或A、V、G曲線板確定其距離－幅度曲線。

6.4.2縱波雙晶探頭探傷靈敏度的調(diào)整

測試一組不同探測距離的φ3mm平底孔，調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%，不改變儀器的參數(shù)，測出其他平底孔回波的最高點(diǎn)，將其繪在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即可建立縱波雙晶探頭的距離－幅度曲線。

6.4.3補(bǔ)償

6.4.3.1表面粗糙度補(bǔ)償：在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對由于表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。

6.4.3.2透聲性補(bǔ)償：在檢測和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對試塊透聲性引起的探傷靈敏度和缺陷定量的誤差進(jìn)行透聲補(bǔ)償。

6.4.3.3曲面補(bǔ)償：對于探測面是曲面的工件，應(yīng)采用與工件曲率半徑相同或相近(0.7~1.1倍)的對比試塊來校正，否則應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)那嫜a(bǔ)償。

6.4.4 探測靈敏度不得低于最大探測距離的φ3mm平底孔當(dāng)量。

6.5探傷靈敏度的復(fù)查

探傷中，應(yīng)核查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)，應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對上一次校準(zhǔn)以來所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對所有記錄缺陷進(jìn)行重新定量。

7.缺陷檢測

7.1缺陷記錄

7.1.1反射回波幅度等于或高于距離－幅度曲線的缺陷。

7.1.2反射回波幅度雖未達(dá)到距離－幅度曲線，但造成第一次底面回波消失的缺陷。

7.1.3底波和缺陷回波均沒有的部位。

7.1.4雖不屬于上述三種情況，但探傷人員能判定是裂紋和縮孔的缺陷。

7.2缺陷尺寸的測定

7.2.1當(dāng)缺陷回波幅度等于或高于距離－幅度曲線者，其邊界可用6dB法確定。工件厚度方向的尺寸由不同方向檢測所確定的缺陷上部和下部邊界確定。

7.2.2當(dāng)缺陷波未達(dá)到距離－幅度曲線，但第一次底面回波消失時(shí)，缺陷的范圍應(yīng)從底面反射波剛好消失時(shí)的探頭中心位置算起到出現(xiàn)底面反射波時(shí)的探頭中心位置為止。缺陷的深度由一組連續(xù)缺陷回波最左側(cè)的波峰位置確定。

7.2.3當(dāng)兩塊缺陷間距小于其中較大缺陷直徑時(shí)，兩缺陷可折合為一個(gè)缺陷，缺陷面積按實(shí)測計(jì)。

7.2.4單個(gè)缺陷的面積以該缺陷的最大尺寸與其在垂直方向的最大尺寸之積計(jì)算。

7.2.5對于有疑問的缺陷，也可采用其他行之有效的方法來進(jìn)行驗(yàn)證。

8.缺陷等級分類

8.1工件中不允許存在裂紋和縮孔等危害性缺陷。

8.2工件的缺陷等級按表3規(guī)定，但對于圓柱形實(shí)心軸類工件的缺陷等級分類按表4規(guī)定。

8.3缺陷所在的截面積為探測部位的最小剖截面積。空心軸與實(shí)心軸的截面積均按實(shí)心軸計(jì)算。