離子遷移譜技術(shù)是應(yīng)用最早且最為廣泛的痕量化學(xué)物質(zhì)探測技術(shù)之一，在實(shí)驗(yàn)室檢測、化學(xué)化工、安檢安防等領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用。而非線性離子遷移譜是以離子遷移理論為基礎(chǔ)的另一種檢測理論，利用目標(biāo)物離子在高電場作用下的遷移率非線性效應(yīng)，操縱離子通行軌跡進(jìn)而對離子進(jìn)行區(qū)分和識別。

兩種技術(shù)都是源自于氣相色譜（GC）理論，但都是應(yīng)用于常壓大氣環(huán)境下的氣體分子（離子）檢測。因此，對于環(huán)境穩(wěn)定性的依賴相對較強(qiáng)，溫度、濕度、氣壓乃至采樣干擾都會對檢測結(jié)果造成影響。常規(guī)的手段除了溫濕度控制和采樣清潔度控制外，還有通過增加已知標(biāo)的物的反應(yīng)物離子峰（RIP），間接的修正環(huán)境不穩(wěn)定因素造成的波譜漂移問題。

因此，離子遷移譜類技術(shù)（包括IMS和FAIMS）可以認(rèn)為是實(shí)驗(yàn)室級精準(zhǔn)檢測技術(shù)在常規(guī)環(huán)境下的降維應(yīng)用，其在識別精度及靈敏度層面不及實(shí)驗(yàn)室級精準(zhǔn)檢測技術(shù)，但是其使用的便捷性卻得到了極大的提升，其具備定性半定量的特點(diǎn)可以滿足“違禁品識別”領(lǐng)域中的大客流、高通量、快速檢測的要求。

此外，隨著離子遷移譜類技術(shù)的不斷發(fā)展，很多交叉領(lǐng)域也被融合到現(xiàn)有技術(shù)中，如基于MEMS加工的微型氣流通道可以在極小尺寸的范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)多變量、低采樣的并行檢測，極大地提升了檢測設(shè)備的融合性與便捷性。

離子遷移譜和非線性離子遷移譜，都是對大氣環(huán)境下的帶電分子進(jìn)行控制和檢測的理論，同是基于離子遷移率K這一物理量，但兩種技術(shù)利用的方式不同，詳細(xì)介紹如下：

1.離子遷移譜技術(shù)（IMS）

IMS技術(shù)通過檢測被電離分子在恒溫、低濕、恒電場的條件下，通過對樣品通過相同長度的電場通道所需花費(fèi)的時間測量，進(jìn)而區(qū)分樣品類型，如圖1所示。

以爆炸物樣品為例，當(dāng)樣品分子置于遷移通道左端時，樣品分子靠近電離源時會被電離帶上負(fù)電，遷移通道內(nèi)電場的方向?yàn)樽杂抑磷?，帶?fù)電的樣品離子在電場的作用下會向傳感器方向進(jìn)行遷移，由于管道內(nèi)的環(huán)境是一定的，在這種環(huán)境下樣品離子的遷移率K也是固定的，因此其遷移速度v=K×E也為固定值，所以同種離子到達(dá)傳感器的時間也是固定的，通過測量分子到達(dá)傳感器的時間T來判斷樣品種類。

實(shí)際應(yīng)用時，由于離子在電場作用下的速度較快，為了減少遷移通道的尺寸，會逆著離子行進(jìn)方向增加一個反向氣流，同時減少所有離子的移動速度。同時，由于管道內(nèi)環(huán)境需要保持高度一致性，一般情況下會對管道壁進(jìn)行加熱，約180℃-200℃。此時的內(nèi)環(huán)境溫度高于室外環(huán)境溫度，在少量采樣的情況下不會對內(nèi)環(huán)境造成影響。

2.非線性離子遷移譜技術(shù)（FAIMS）

區(qū)別于IMS技術(shù)，F(xiàn)AIMS技術(shù)利用的是樣品分子（離子）在空氣中的遷移率K的高電場下的非線性效應(yīng)。在電場強(qiáng)度E低于10000V/cm時，離子的遷移速度v和離子的遷移率K依舊成線性關(guān)系，即v=K×E。但是當(dāng)電場強(qiáng)度大于10000V/cm時，遷移率K會隨著電場強(qiáng)度E發(fā)生變化，可表述為K=K0（1+α（E））。對于不同的樣品離子，其非線性系數(shù)α也不同。當(dāng)樣品離子處于正負(fù)強(qiáng)度非對稱且周期總和為0的交變電場作用下時，在電場較強(qiáng)的半個周期內(nèi)，離子運(yùn)動的非線性效應(yīng)會較為明顯，假定該離子的非線性系數(shù)α＞0，則該離子在這半個周期內(nèi)的運(yùn)動距離S圖1高場會比另半個周期內(nèi)的運(yùn)動距離S低場要大，即S高場-S低場＞0，離子在整個不對稱電場的周期作用下會產(chǎn)生一個沿電場方向的凈位移（δS）。

如圖2所示，遷移通道的上下電極之間會加有強(qiáng)度不對稱的周期電壓，從而在上下電極之間形成強(qiáng)度不對稱的周期電場。同時，在遷移通道中存在著自左向右的流動氣流。離子的行進(jìn)軌跡如圖2所示，這是在不進(jìn)行刻意修正的情況下電場和氣流雙重作用下的結(jié)果。但是通過調(diào)整電極板間距、電場強(qiáng)度差、電場頻率等信息可以控制離子無法通過遷移通道，而不是直接撞擊在電極側(cè)壁上，失去電子，從而無法被傳感器進(jìn)行檢測。

FAIMS技術(shù)的主要實(shí)現(xiàn)思路就是控制諸如電場強(qiáng)度、頻率、電極間距這些參量，控制選定的離子通過遷移通道而阻礙其他的離子通過，從而實(shí)現(xiàn)離子篩選和識別的目的。

3.IMS和FAIMS的區(qū)別

兩種離子遷移譜技術(shù)雖然都利用電離源進(jìn)行電離后再進(jìn)行遷移檢測，但由于檢測的方式和檢測的條件不同，兩種檢測方式也具有不一樣的特點(diǎn)。IMS技術(shù)的設(shè)備由于在設(shè)計中會對電場通道進(jìn)行恒溫恒濕等處理，因此其檢測結(jié)果受到外界環(huán)境的干擾相對較少，但同樣是由于如此，設(shè)備的體積以及啟動時間都會有所妥協(xié)。FAIMS原理的設(shè)備由于是通過測量樣品通過管道時預(yù)置條件而并非通過時間，對外界環(huán)境沒有太高要求，不需要對環(huán)境進(jìn)行預(yù)處理，因此可以將設(shè)備的體積減小，縮短啟動時間，但相對的控制手段較為復(fù)雜。