半導體激光二極管測試工作是激光器生產(chǎn)流程中的最后一環(huán)。在出廠封裝前測試激光器各項參數(shù)是否符合出廠標準,是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段。
測試流程主要分為八個項目,從輸出光的功率、波長、光束質(zhì)量、偏振等方面對激光器的性能做了一次全面的“體檢”,每項測試大約需要使用一到三種測試儀器。
筱曉光子AOL實驗室
我們筱曉光子的半導體測試實驗室配備光功率計、光譜分析儀、波長計、線寬測試儀、光束質(zhì)量分析儀等設(shè)備,可以完成功率測試、光譜測試等眾多測試項目。
接下來介紹一下筱曉光子AOL實驗室的半導體測試的八個測試項目。
01 ,功率-電流-電壓曲線測試(PIV)測試
功率曲線測試需要繪制出兩條曲線:
輸出功率與驅(qū)動電流的變化關(guān)系(P-I)
電壓與驅(qū)動電流的伏安曲線(V-I)
選用測試驅(qū)動:CTL200
Koheron CTL200是流行的CTL101模擬激光控制器的數(shù)字版本。它結(jié)合了低噪聲電流驅(qū)動器與調(diào)制和溫度控制器。CTL200安裝在一個75 mm x 75 mm的正方形中,使用單一的5.9V電源,并可以在0到50°C之間運行。CTL200是傳導冷卻的。它帶有一個鋁基板和一個零插入力插座,便于安裝。
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CTL200數(shù)字蝶形激光二極管控制器 驅(qū)動板 (3dB調(diào)制帶寬10 MHz)
02,功率穩(wěn)定性測試
功率穩(wěn)定性是衡量激光器輸出性能的一個重要指標,它表征了激光器輸出功率的穩(wěn)定程度。功率穩(wěn)定性分為兩個方面,RMS功率穩(wěn)定性和峰峰值功率穩(wěn)定性。
03 ,光譜測試
光譜測試檢測了功率關(guān)于波長的分布情況。
選用測試儀器:臺式光譜分析儀 MS9740B
具有動態(tài)范圍寬、分辨率高!且波長范圍在 600 nm 到 1750 nm 之間掃描速度快的特點,同時支持多模光纖輸入,是制造和評估 850 nm 波段 VCSEL 模塊的理想選擇。
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MS9740B 安立高精度光譜分析儀 600-1750nm
04 ,溫度-電流-波長調(diào)諧曲線測試
溫度-電流-波長調(diào)諧曲線體現(xiàn)了在三種不同的溫度下,電流與波長之間的數(shù)量關(guān)系。
選用測試儀器:光譜分析儀為AQ6375E
? 波長范圍:1200 ~2400nm
? 波長精度:±0.05nm (1520 ~ 1580nm)、 ±0.1nm (1580 ~ 1620nm)、±0.5nm (全波長范圍)
? 波長重復性:±0.015nm (1分鐘)
? 波長分辨率設(shè)置:0.05、0.1、0.2、0.5、1和2nm
? Min. 采樣分辨率:0.002nm
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YOKOGAWA橫河 AQ6375E 2um 長波長光譜分析儀 (NIR/SWIR)
05 ,波長穩(wěn)定性測試
選用測試儀器:波長計771B-NIR、FWM8612
771系列激光光譜分析儀將成熟的邁克爾遜干涉儀技術(shù)與快速傅里葉變換分析相結(jié)合,形成了一種儀器,可同時用作高分辨率光譜分析儀和高精度波長計。
? 分辨率高達 2 GHz
? 波長精度高達 ±0.0001 nm
? 光抑制比超過 40 dB
? 可為工作范圍為 375 nm 至 12 μm 的激光器提供最詳細的光譜信息
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Bristol 近紅外高精度激光波長計 520-1700nm 771B-NIR-FA
快速波長計 1250-1650nm (182-240THz)
FWM1216快速波長計,是基于斐索干涉儀技術(shù), 結(jié)合了溫度控制干涉儀,多級復合干涉腔及線性陣列CCD探測器。
與傳統(tǒng)的基于邁克爾遜干涉儀的普通波長計不同,F(xiàn)WM1216-1KHz采用全固態(tài)結(jié)構(gòu),非機械運動部件光學設(shè)計,使其能在確保非常高測量精度(1pm)的同時具有超高 速的測量速率(高達1kHz的波長刷新速率),結(jié)合外部觸發(fā)及快速功率探測功能,使得FWM1216-1KHz成為精確觀察波長 和功率同步瞬態(tài)變化的好選擇。
06 , 激光線寬測試
激光線寬,指激光光源發(fā)射光譜的半高全寬,是光源單色性的量度,精確測量激光器的線寬對于評價單頻激光器的性能非常重要。
我們采用延時自外差法對其線寬進行了測量,它是一種精準測量單縱模窄線寬激光器線寬較好的方法。
對于延時自外差法系統(tǒng),激光器發(fā)出的光波經(jīng)耦合器分成兩路,一路經(jīng)過光纖延遲線,另一路經(jīng)過聲光調(diào)制器進行移頻,兩路光波自身光頻非常大(可高達幾百太赫茲以上),但是經(jīng)過移頻,頻移量有幾十到幾百兆赫茲,此時兩路光頻相差僅為頻移量,遠遠小于光波本身頻率,滿足拍頻條件。
頻譜分析儀測量的為相干疊加后得到的光電流譜線,此時可從延時光電流譜線測定窄線寬激光器的線寬。
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窄線寬激光線寬測量系統(tǒng)/線寬分析儀 1300-1700nm
07 ,偏振消光比測試
對于激光器而言,偏振消光比越高,將輸出光變?yōu)榫€偏光的能力就越強。
選用測試儀器:SK010PA 偏振分析儀
SK010PA 偏振分析儀是自由光束應(yīng)用和具有保偏光纖的光源的通用測量和測試系統(tǒng)。是從實踐經(jīng)驗中開發(fā)出來的產(chǎn)品,優(yōu)點是高可用性。
它是即插即用的設(shè)備,配備了直接連接 Windows 的 USB2.0 接口,通過 USB 供電,可輕松集成到現(xiàn)有設(shè)備中進行快速地校準并對 Stokes 參數(shù)(偏振度、橢圓度)進行實時測量,并在一個描述 Poincaré球體極化狀態(tài)的交互式顯示器中顯示。
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SK010PA 紫外/近紅外偏振分析儀 UV/UVIS/VIS/NIR/IR
08 , 光束質(zhì)量測試
選用測試儀器:M2 Beam U3光束質(zhì)量分析儀
DUMA公司最新版本的M2 BeamOn U3 M2分析儀。主要由帶濾光輪的Beam On U3相機和帶無像差透鏡的移動平臺組成,通過采集多個測量面實現(xiàn)對M2因子的測量,整體準確度保持在±10%范圍內(nèi)。
M2 Beam U3 是一種用于實時位置,功率和光束輪廓檢測的光束診斷測量系統(tǒng)??梢詼y量連續(xù)激光和脈沖激光,光譜范圍覆蓋350nm-1600nm它提供了非常直觀的圖形表示和分析激光束各種參數(shù)的能力,包括M2,光束發(fā)散角,束腰寬度及位置,瑞利長度及焦點深度等參數(shù)滿足用戶對光束質(zhì)量參數(shù)的需求。同時是USB3.0設(shè)備級別的軟件驅(qū)動設(shè)備,駐留在用戶的主機,實現(xiàn)數(shù)據(jù)快速傳輸以及便捷使用。
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DUMA M2 Beam U3光束質(zhì)量分析儀 350–1600nm
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