產(chǎn)品關(guān)鍵詞：多通道電致器件穩(wěn)定性測(cè)試、多通道電致器件壽命測(cè)試、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)、多通道、電致發(fā)光器件老化系統(tǒng)、光譜功率分布（ λ）、光譜功率分布（ λ）、光通量、相關(guān)色溫（CCT）、顯色指數(shù)（CRI）、電功率密度

多通道電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng)EL-Lab是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員，與東譜科技的電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng) HiYield 共同為行業(yè)提供了完善的電致發(fā)光的測(cè)量方案。該系統(tǒng)由一系列相應(yīng)的分布測(cè)量組件組成，包括光電測(cè)量模塊、亮度校準(zhǔn)模塊、光譜測(cè)量模塊等。利用該系統(tǒng)組件的分布特性，可以靈活搭建適用于不同類型器件的測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以便捷地?cái)U(kuò)展測(cè)量通道數(shù)量，且可以為不同的測(cè)試通道配備相同或者差異的測(cè)試功能，從而可以適應(yīng)豐富的測(cè)量場(chǎng)景，如批量測(cè)量、手套箱測(cè)量、變溫測(cè)量、老化測(cè)量等。

EL-Lab可實(shí)現(xiàn)多通道批量測(cè)量；可放進(jìn)手套箱內(nèi)測(cè)試；支持長(zhǎng)時(shí)間的多個(gè)器件的老化測(cè)試； 支持寬溫度范圍的變溫測(cè)試；全面的電致發(fā)光測(cè)量參數(shù)等特點(diǎn)。

EL-Lab測(cè)試功能包括發(fā)光效率參數(shù)：外量子效率、電流效率、功率效率等；電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率密度等； 輻射度學(xué)參數(shù)： 光譜功率分布、輻射通量、光視效能、主波長(zhǎng)等 ；光度學(xué)參數(shù)：亮度、光通量等；色度學(xué)參數(shù)： CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1、顯色指數(shù)等 ；器件老化參數(shù)：不同老化時(shí)間下的上述參數(shù)；變溫測(cè)量等；多通道電致器件穩(wěn)定性測(cè)試、多通道電致器件壽命測(cè)試、電致發(fā)光、IVL、電致發(fā)光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件壽命、外量子效率、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)等。