BW-3010B 

晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀(光耦&光電傳感器雙功能版)

 用途： BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試。

BW-3010B產(chǎn)品介紹：

BW-3010B型光藕參數(shù)測(cè)試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器和光電傳感器的功能和參數(shù)測(cè)試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測(cè)試，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測(cè)試條件和測(cè)試參數(shù)的設(shè)定,測(cè)試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測(cè)試條件可以任意設(shè)置，測(cè)試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A，操作簡(jiǎn)便，實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測(cè)試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來(lái)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測(cè)設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù)：

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號(hào)：BW-3022A

產(chǎn)品名稱：晶體管光耦參數(shù)測(cè)試儀；

物理規(guī)格

主機(jī)尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)

主機(jī)重量：＜4.5Kg

主機(jī)顏色：白色系

電氣環(huán)境

主機(jī)功耗：＜75W

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲(chǔ)存）、5℃～50℃（工作）；

相對(duì)濕度：≯85%；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護(hù)條件：無(wú)較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時(shí)間：連續(xù)；

服務(wù)領(lǐng)域：

半導(dǎo)體生產(chǎn)企業(yè)、晶圓測(cè)試、封裝測(cè)試、電網(wǎng)、家電、新能源汽車、教育教學(xué)、軌道交通、功率模塊等光耦測(cè)試

應(yīng)用場(chǎng)景： 

? 研發(fā)分析 :  根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的測(cè)試分析
?失效分析：失效測(cè)試分析，失效機(jī)理分析、 過(guò)程分析及改善依據(jù)
?選型配對(duì)：同類型器件參數(shù)對(duì)比分析、選型參數(shù)依據(jù)、一致性分析類比
? 來(lái)料檢驗(yàn)：檢驗(yàn)部/質(zhì)量部（IQC）對(duì)出入庫(kù)器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率
?量產(chǎn)測(cè)試：可與機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)、編帶機(jī)、探針臺(tái)等外部設(shè)備聯(lián)機(jī)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；?、自動(dòng)化快速測(cè)試

?選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）

?檢驗(yàn)篩選（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

產(chǎn)品特點(diǎn)：

?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡(jiǎn)潔,操作方面簡(jiǎn)單

?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).

?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測(cè)試電路,電壓/電流源和測(cè)試回路.

?高壓測(cè)試電流分辨率1uA,測(cè)試電壓可達(dá)1500V；

?重復(fù)”回路”式測(cè)試解決了元件發(fā)熱和間歇的問(wèn)題；

?軟件自校準(zhǔn)功能；

?自動(dòng)測(cè)試測(cè)DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測(cè)試；

?DUT的功能檢測(cè)通過(guò)LCD顯示出被測(cè)器件/DUT的類型，顯示測(cè)試結(jié)果是否合格,并有聲光提示；

?兩種工作模式：手動(dòng)、自動(dòng)測(cè)試模式。

BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系

BW-3010B測(cè)試技術(shù)指標(biāo)：

1、光電傳感器指標(biāo):

1.1輸入正向壓降(VF)

1.2反向電流(Ir)

1.3集電極電流(Ic)

1.4輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

1.5輸出漏電流(Iceo)

2、光電耦合器：

2.1 耐壓(VCEO)測(cè)試指標(biāo)

2.2輸入正向壓降(VF)

2.3反向漏電流(ICEO)

2.4反向漏電流(IR)

2.5電流傳輸比(CTR)

2.6輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

2.7可分檔位總數(shù)：10檔。

BW-3010B測(cè)試定義與規(guī)范：

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測(cè)試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測(cè)試電流.

Vce:Bv:表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電壓.

Vce:Ir: 表示測(cè)試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測(cè)試電流.

CTR:IF:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

CTR:Vce:表示測(cè)試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測(cè)試電壓。

Vsat:IF:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測(cè)試電流。

Vsat:Ic:表示測(cè)試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測(cè)試電流。