技術(shù)原理:
單波長X熒光總硫分析儀主要利用X射線熒光(XRF)技術(shù)來測量樣品中的硫含量。其技術(shù)原理可以概括為以下幾個(gè)步驟:
X射線源:儀器內(nèi)部的X射線管產(chǎn)生高能X射線,這些X射線被用來激發(fā)樣品中的元素。
激發(fā)過程:X射線照射到樣品上,樣品中的硫原子(以及其他元素)會吸收X射線的能量,并進(jìn)入激發(fā)狀態(tài)。
熒光發(fā)射:當(dāng)硫原子從激發(fā)狀態(tài)返回到基態(tài)時(shí),它們會發(fā)射出特定波長的X射線,這些X射線稱為熒光X射線。硫原子的熒光X射線具有特定的能量特征。
檢測器:儀器配備有高靈敏度的X射線探測器,通常是波長色散型探測器(WDX),用于檢測樣品發(fā)射出的熒光X射線。探測器收集到的熒光X射線信號被轉(zhuǎn)換成電子信號,然后生成能量譜圖。
數(shù)據(jù)分析:譜圖中的特定能量峰對應(yīng)于硫元素的特征熒光X射線。通過分析這些特征峰的強(qiáng)度,可以確定樣品中硫的含量。儀器需要通過已知硫含量的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn),建立校準(zhǔn)曲線,以將熒光X射線強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系建立起來。
結(jié)果輸出:測試結(jié)果通過顯示屏、打印機(jī)或數(shù)據(jù)接口輸出,供用戶查看和記錄。
優(yōu)勢分析:
高精度:單波長X熒光技術(shù)能夠精確測量樣品中的硫含量,檢測下限可達(dá)到極低的水平(如0.1ppm或更低),滿足高精度分析的需求。
快速分析:相比傳統(tǒng)分析方法,單波長X熒光總硫分析儀具有更快的分析速度,能夠在短時(shí)間內(nèi)完成大量樣品的檢測。
無需樣品處理:該儀器通常采用直接常溫的測量方法,不需要對樣品進(jìn)行氣化、轉(zhuǎn)換、高溫處理等復(fù)雜步驟,簡化了操作流程,降低了操作難度。
低維護(hù)量:儀器內(nèi)部無運(yùn)動部件,減少了故障發(fā)生的可能性,同時(shí)降低了維護(hù)成本和維護(hù)頻率。
廣泛適用性:單波長X熒光總硫分析儀適用于多種液體和固體樣品的檢測,包括汽油、柴油、原油、催化劑等,具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
符合國際標(biāo)準(zhǔn):儀器符合多項(xiàng)國際標(biāo)準(zhǔn)(如ASTM D7039、SH/T 0842等),確保了檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
易于操作:儀器通常配備全中文軟件,操作簡便,用戶無需專業(yè)培訓(xùn)即可上手操作。
綜上所述,單波長X熒光總硫分析儀以其高精度、快速分析、無需樣品處理、低維護(hù)量、廣泛適用性和符合國際標(biāo)準(zhǔn)等優(yōu)勢,在石化、環(huán)保等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
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