覆層測(cè)厚儀基本原理：

本儀器采用了磁性測(cè)厚法，可無(wú)損傷地測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層）。  基本工作原理是：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)。測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可計(jì)算覆層的厚度。

覆層測(cè)厚儀基本配置：

■TT220主機(jī) 一臺(tái)

■標(biāo)準(zhǔn)樣片 1盒

■標(biāo)準(zhǔn)基體 1塊

■充電器 1個(gè)

覆層測(cè)厚儀主要功能：

■可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正：

■具有兩種測(cè)量方式地：連續(xù)測(cè)量方式（continue）和單次測(cè)量方式（single）;

■具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；

■具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；

■設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值地（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；

■具有打印功能，或打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；

■具有欠壓指示功能；

■操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

■具有錯(cuò)誤提示功能；

■具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。

覆層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：

■測(cè)量速度快：測(cè)量速度比其它TT系列快6倍；

■精度高 ：本公司產(chǎn)品簡(jiǎn)單校0后精度即可達(dá)到1-2%是目前市場(chǎng)上*能達(dá)到*的產(chǎn)品,其精度遠(yuǎn)高于時(shí)代等國(guó)內(nèi)同類.比EPK等進(jìn)口產(chǎn)品精度也高；

■穩(wěn)定性：測(cè)量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進(jìn)口產(chǎn)品；

■功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。

覆層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：

該儀器是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測(cè)量。可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》。

功能特點(diǎn)：

采用了磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。

參數(shù)：

■測(cè)頭類型：F。

■測(cè)量原理：磁感應(yīng)。

■測(cè)量范圍：0-1250um。

■低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。

■探頭連接方式：一體化。

■示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）±[3%H 1]。

■兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）： ±[（1～3）%H 1]。

■測(cè)量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。

■基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。

■zui小臨界厚度（mm）：0.5。

■溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。

■統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、

標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。

■工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。

■測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）上下限設(shè)置。

■存儲(chǔ)能力：15 個(gè)測(cè)量值。

■打印/連接計(jì)算機(jī)：可選配打印機(jī)/不能連接電腦。

■關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)。

■電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池。

■外形尺寸：150×55.5×23mm。

■重量：150g。

■基本配置：主機(jī)。

■標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。

■鐵基體。

■充電器。

■可選附件。

■TA230打印機(jī)。

涂層杯突試驗(yàn)機(jī)操作方法：

將儀器撥開(kāi)關(guān)扳向單面

★單面涂層板的試驗(yàn)—自動(dòng)調(diào)零  將試驗(yàn)機(jī)手輪朝下降方向（順時(shí)針）旋到底，松動(dòng)試驗(yàn)機(jī)上部試片壓緊裝置，將單面涂層試板金屬朝下，涂層面朝上插入試驗(yàn)機(jī)上部的夾縫中，并使沖頭對(duì)準(zhǔn)該試片的中心軸線，緊固壓緊裝置，按一下儀表紅色清零按鈕，顯示器顯示為零，以0.2±0.1mm/s（ 即2-3秒一圈）的速度朝上升方向（逆時(shí)針）轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，沖頭碰到試板金屬面，顯示器自動(dòng)顯示零點(diǎn)，此時(shí)儀器紅燈亮，再繼續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，顯示器讀數(shù)為上高度，也就是壓陷深度，進(jìn)行中不可逆轉(zhuǎn)，否則讀數(shù)不準(zhǔn)。

★雙面涂層板的試驗(yàn)—手動(dòng)調(diào)零  將試驗(yàn)機(jī)手輪朝下降方向（順時(shí)針）旋到底，松動(dòng)試驗(yàn)機(jī)上部試片壓緊裝置，用隨機(jī)的調(diào)零鋼板插入試驗(yàn)機(jī)上部的夾縫中，緊固壓緊裝置，按一下儀表紅色按鈕，使顯示器顯示為零，以上升方向（逆時(shí)針）緩慢轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，當(dāng)儀器紅色燈亮?xí)r，也就是顯示器為零時(shí)，停止轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，松開(kāi)壓緊裝置，取出調(diào)零鋼板（儀器紅燈熄滅），將撥子開(kāi)關(guān)扳向雙面，換上雙面涂層試板，壓緊緊固裝置，再手動(dòng)清零（按一下儀表紅色按鈕），以0.2±0.1mm/s速度向上升方向轉(zhuǎn)動(dòng)手輪，顯示器讀數(shù)為上升高度也就是壓陷深     度。

★以校正過(guò)的視力或10倍放大鏡，檢查試片上的涂層是否開(kāi)裂或從底材上分離。

★上述程序應(yīng)在兩塊單獨(dú)的試片上進(jìn)行，若結(jié)果不同，應(yīng)補(bǔ)充試驗(yàn)，至兩塊試片結(jié)果一致，若底材出現(xiàn)裂紋，則該實(shí)驗(yàn)結(jié)果無(wú)效。

測(cè)定引起破壞的zui小程度：

試片上的涂層*次出現(xiàn)開(kāi)裂，或涂層從底材上分離時(shí)，沖頭停止移動(dòng)。（顯示器上的數(shù)字為推進(jìn)深度）上述試驗(yàn)需在同一種底材上重復(fù)進(jìn)行，以驗(yàn)證其結(jié)果，直至一致。

簡(jiǎn)介：

該試驗(yàn)機(jī)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO1520和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB9753-88設(shè)計(jì)制作的QBJ型涂層杯突試驗(yàn)機(jī)適用于評(píng)價(jià)色漆清漆及有關(guān)產(chǎn)品的涂層（單層或配套系涂層）在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的實(shí)驗(yàn)方法下，進(jìn)行壓陷試驗(yàn)，使之逐漸變形后，其涂層的抗開(kāi)裂或抗與金屬材分離的性能，評(píng)定涂層通過(guò)或不通過(guò)。也可逐漸增加壓陷深度，以測(cè)定涂層剛出現(xiàn)開(kāi)裂或開(kāi)始脫離底材的zui小深度。

參數(shù)：

★數(shù)顯分度值：0.01mm。

★zui大壓陷力：1000N。

★試片規(guī)格：70mm*70mm*0.03mm～1.25mm。

★壓陷直徑：20mm。

★壓陷zui大深度：10mm。

★壓陷精度：0.05mm。

試片的準(zhǔn)備：

★試片成方形，其尺寸為70mm*70mm*0.03～1.25mm

★試片的材質(zhì)應(yīng)是磨光鋼板，并符合GB9271要求，試片應(yīng)平整沒(méi)有變形。

★試片按標(biāo)準(zhǔn)要求制備涂層，進(jìn)行干燥，測(cè)量其厚度，在溫度23±2℃,相對(duì)濕度50±5%的環(huán)境下,進(jìn)行狀態(tài)調(diào)節(jié)至少16小時(shí)后方可投入試驗(yàn)。