手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
sem掃描電子顯微鏡是一種高分辨率電子顯微鏡，它利用聚焦的電子束來掃描樣品表面并產生高分辨率的圖像。它的主要組成部分包括電子源、電子光學系統、樣品臺、探測器和顯示和控制系統。
1、電子源：sem掃描電子顯微鏡的電子源通常是熱發(fā)射陰極，通過加熱陰極產生高能量的電子束。這些電子束經過加速管和減速管后，被聚焦成一個細小的束以掃描樣品表面。
2、電子光學系統：電子光學系統包括透鏡、光柵和掃描線圈等部件，用于將電子束聚焦到樣品表面并進行掃描。透鏡可以調節(jié)電子束的焦距，光柵用于調節(jié)電子束的強度和方向，掃描線圈則控制電子束在樣品表面的移動。
3、樣品臺：樣品臺是支撐樣品并使其能夠在電子束下進行掃描的平臺。樣品臺通常具有XYZ移動功能，可以精確控制樣品在電子束下的位置，以獲得所需的圖像。
4、探測器：探測器是用于捕捉由樣品表面散射的電子或光子的設備，不同的探測器可以捕捉不同類型的信號。常用的探測器包括二次電子探測器(SE)和后向散射電子探測器(BSE)，它們可以提供關于樣品表面拓撲和化學成分的信息。
5、顯示和控制系統：顯示和控制系統用于控制操作參數，并顯示掃描得到的圖像。操作人員可以通過控制系統調節(jié)電子束的能量、焦距、掃描速度等參數，以獲得高質量的圖像。
總的來說，sem掃描電子顯微鏡的主要組成部分包括電子源、電子光學系統、樣品臺、探測器和顯示和控制系統。這些部件協同工作，使其能夠提供高分辨率的樣品表面圖像，并為科學研究和工程應用提供重要的信息。在材料科學、生物科學、納米技術等領域具有廣泛的應用前景。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心