Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)作為檢測器,CMOS 檢測儀器集成性高、讀取速度更快、功耗低、長期穩(wěn)定性更高;每個像素自帶放大器,可對特殊元素進行強度調(diào)整,增加儀器的準確度,降低分析限,實現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng),儀器性能更穩(wěn)定,服務期限更長久。海量的譜線使分析不再受限,曲線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實現(xiàn)無縫銜接,拓展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準確,可以在用戶現(xiàn)場任意增加材料基體和分析元素而無需增加硬件,維護保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應各種不同材料;網(wǎng)口采集傳輸,速度快,通用性更強。
相關(guān)產(chǎn)品
免責聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。