半微量分析天平是實驗室分析天平的一種類型,具有比普通分析天平更高的靈敏度,通常用于毫克級的測量。其典型稱量能力在50g至220g之間,可讀性為5位或更多小數(shù)(通常對應(yīng)0.01mg至0.002mg)。這種天平通常配備有先進(jìn)的稱重技術(shù),如電磁力補償稱重系統(tǒng),以確保稱重速度和重復(fù)性。此外,半微量分析天平還具有操作速度快、重復(fù)性好、精度高等優(yōu)點。
半微量分析天平的工作原理基于電磁力補償原理。天平外殼內(nèi)的稱量單元對放置在秤盤上的物體產(chǎn)生一個反作用的電磁力,天平將這種補償電磁力的大小解釋為物體的重量,并將結(jié)果以適當(dāng)?shù)膯挝伙@示在天平終端上。
作為一款精密的儀器,為了保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確性,我們在使用半微量分析天平時需要遵循以下步驟:
準(zhǔn)備工作:確保稱量環(huán)境潔凈,避免塵埃和雜質(zhì)影響稱量結(jié)果;使用防風(fēng)罩以減少空氣流動對稱量的影響;確保稱量臺面平穩(wěn),避免震動。
儀器檢查:確認(rèn)半微量分析天平處于正常工作狀態(tài),定期校準(zhǔn)以確保準(zhǔn)確性;檢查天平的電源和顯示屏,確保無故障。
稱量操作步驟:開機預(yù)熱至少30分鐘以保證穩(wěn)定性;進(jìn)行零點校準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)砝碼校準(zhǔn);將準(zhǔn)備好的稱量容器放在天平的稱量盤上,按去皮按鈕將天平歸零;小心將待稱量樣品加入稱量容器中,避免樣品散落或揮發(fā);輕輕關(guān)閉防風(fēng)罩,待天平穩(wěn)定后讀取質(zhì)量值;記錄稱量結(jié)果并確保記錄清晰、完整。
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