集成電路卡彎扭曲試驗機產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡等卡類的彎曲和扭曲性能測試。

IC卡動態(tài)彎扭曲試驗機的工作原理主要是通過一個曲柄裝置來驅動其移動部分，?使彎曲應力以一定頻率（如0.5Hz）的正弦曲線方式變化?，從而實現(xiàn)對IC卡（包括磁條卡、IC芯片卡、集成電路卡等）的彎曲和扭曲性能測試?。

這種測試機針對性地符合多項國家和國際標準，如國標GB/T 16649.1、GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等，用于檢測IC卡在不同彎曲和扭曲條件下的性能表現(xiàn)?。動態(tài)彎扭曲試驗機能夠按照預設的測試速度（如彎曲29r/min）和測試周期（1~999次）對IC卡進行反復彎曲扭轉試驗，同時可以控制扭曲度（如15°±1°雙向）等參數(shù)，以評估IC卡的物理力學性能和工藝性能?。

集成電路卡彎扭曲試驗機技術參數(shù)：

1.型號：MX(IC)

2.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

3.測試周期：1~9999次

4.扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

5.正反向各15°，總扭曲角度30°

6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.長邊小位移量為2mm±0.50mm，

8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.長邊小位移量為1mm±0.50mm，

10.夾具安裝尺寸按照國家標準執(zhí)行。

11.長邊彎曲工位數(shù)：5工位

    短邊彎曲工位數(shù)：5工位

    雙向扭轉工位數(shù)：5工位

12.電 壓：AC220V±5%

13.功 率：35W

14.外形尺寸：L670 X W380 X H220（mm)

15.儀器重量：70kg