羅德與施瓦茨在光電元器件領域長期探索及積累，推出的頻域參數(shù)測試方案和時域參數(shù)測試方案，能夠幫助用戶快速可靠地測量這些光電元器件的頻域和時域參數(shù)，助力用戶實現(xiàn)高效率高質量的研發(fā)和生產(chǎn)。

一、頻域參數(shù)測試應用場景

1、E/E器件測量：

僅使用矢量網(wǎng)絡分析儀即可實現(xiàn)E/E器件測量。E/E器件的測量重點主要是傳輸帶寬、插入損耗或增益、阻抗匹配和群延時。

2、O/O器件測量：

在測試光電器件之前，通常在射頻同軸電纜或探頭的末端對矢量網(wǎng)絡進行校準。通常對傳輸系統(tǒng)的帶寬和群時延進行測試?？蓽y試無源光器件的插入損耗、分散效應引起的帶寬限制，以及光群時延。除了基本的矢量網(wǎng)絡電口校準外，O/O器件測試還需要一步式光纖校準。經(jīng)校準的E/O和O/E器件與光纖連接。經(jīng)歸一化校準，可以消除整個系統(tǒng)的誤差。

3、E/O器件測量:

EOM、DML或TOSA是常見的E/O器件。雙驅動光調制器可用4端口矢量網(wǎng)絡分析儀（如R&S®ZNA）進行表征。

二、頻域參數(shù)測試方案

GOCA系列通用光電元器件分析儀由專用光電底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量網(wǎng)絡分析儀協(xié)同構成，不僅可實現(xiàn)電器件參數(shù)分析，還可實現(xiàn)用戶對于直調激光器、電光調制器、光電探測器、光微環(huán)、光柵等光電芯片、器件和模塊的測量，支持S參數(shù)、截止頻率、差分/共模參數(shù)、延時參數(shù)、交調/互調參數(shù)、噪聲系數(shù)等關鍵數(shù)據(jù)的獲取，適用于光電元器件研發(fā)、生產(chǎn)和應用的整個周期鏈。

1、測試系統(tǒng)方案構成：

• ZNA67微波矢量網(wǎng)絡分析儀 

• GOCA-67光電底座

2、方案優(yōu)勢：

• 覆蓋電-光、光-電、光-光、三種光學器件性能參數(shù)測試

• 測量頻率可達110GHz

• 測量波長覆蓋1550nm / 1310nm / 850nm

三、示波器光器件時域測試解決方案

R&S聯(lián)合Newport科技推出光器件測試解決方案，可幫助用戶快速的測試光電元器件的時域參數(shù)。Newport光電探測器和RTO6、RTP等系列示波器協(xié)同工作，集成光電元器件時域參數(shù)的測量功能。實現(xiàn)了激光元器件的參數(shù)分析，還支持光電信號分析，可用于光電元器件的研發(fā)、生產(chǎn)和應用。

RTO6示波器系列提供出色信號，助您了解應用情況。這款全集成式測試解決方案兼具15.6"大觸摸屏、全新圖形用戶界面、波形捕獲率、信號保真度、數(shù)字觸發(fā)和快速響應的深存儲，可用于頻率、協(xié)議和邏輯分析。RTO6示波器系列具有豐富的測量工具和新型用戶界面，能夠快速解決各種簡單或復雜的電路問題。

1、產(chǎn)品亮點：

• 6GHz帶寬

• 每秒一百萬波形

• 9.4ENOB,確保非凡的信號完整性

• 2Gpoints 存儲深度

• 獨樹一幟的頻率區(qū)域觸發(fā)

RTP高性能示波器將優(yōu)異的信號完整性與波形捕獲率相結合。它結構緊湊，內部集成定制化的前端ASIC和實時處理硬件，能夠以全新的速度執(zhí)行準確測量。

1、產(chǎn)品亮點：

• 波形捕獲率高達 750,000波形/秒，可快速查找故障

• 高精度數(shù)字觸發(fā)，無帶寬限制

• 實時去嵌，用于觸發(fā)和快速波形捕獲

• 緊湊設計，適用于任何實驗室環(huán)境

• +/-0.25dB平坦頻率響應，實現(xiàn)準確測量

艾克賽普公司是羅德與施瓦茨（R&S）湖南代理商，如果您對光電器件測試有需求或任何疑問，歡迎聯(lián)系我們，將提供免費樣機上門試用和定制測試解決方案。